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TCASA005-2020 用于硬开关电路的GaN HEMT动态导通电阻测试方法.pdfVIP

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  • 2024-08-05 发布于上海
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TCASA005-2020 用于硬开关电路的GaN HEMT动态导通电阻测试方法.pdf

    ICS31.080

    L40/49

    团体标准

    T/CASAS005—2022

    用于硬开关电路的氮化镓高电子迁移率晶体

    管动态导通电阻测试方法

    Dynamicon-resistancetestmethodforGaNhighelectronmobility

    transistor(HEMT)inhard-switchingcircuits

    版本：V01.00

    2022-09-16发布2022-09-16实施

    第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

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