【英/法语版】国际标准 IEC 62129-3:2019 EN-FR 标定波长/光频测量仪器-第3部分:内部参照频率组合的光频计 Calibration of wavelength/optical frequency measurement instruments - Part 3:Optical frequency meters internally referenced to a frequency comb.pdf
- 1
- 0
- 2024-08-06 发布于四川
-
正版发售
- 废止
- 已被废除、停止使用,并不再更新修订
- | 2019-05-20 颁布
- 1、本标准文档预览图片由程序生成,具体信息以下载为准。
- 2、本网站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
- 3、本网站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
- 4、标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题
查看更多
IEC62129-3:2019EN-FR是关于波长/光学频率测量仪器的校准的第3部分,主要涉及对内部以光频梳子(频率梳)为参考的光频计的校准。
以下是对该标准的详细解释:
IEC62129是一个国际标准系列,专门针对波长/光学频率测量仪器的校准。这个标准旨在提供一个统一的框架,用于评估和改善这些仪器的性能,并确保它们在各种应用中的准确性和可靠性。
第3部分,即EN-FR,主要关注的是内部以光频梳(频率梳)为参考的光频计的校准。频率梳是一种精确的频率标准,其频率稳定度非常高,通常在纳赫兹级别。这意味着它们可以提供非常高的频率精度,这对于许多科学和工程应用至关重要。
具体来说,这个标准规定了进行内部频率梳参考的光频计校准所需的一系列步骤和要求。这些步骤包括但不限于:设备的功能测试、参考光频计的校准、仪器响应时间的评估、以及在特定应用中的性能评估等。
在进行这些校准步骤时,需要遵循一系列特定的规范和要求,以确保结果的准确性和可靠性。这个标准还提供了对校准结果的解释和分析,以便用户能够了解他们的设备在各种条件下的性能。
IEC62129-3:2019EN-FR标准为内部以光频梳为参考的光频计的校准提供了一个详细的框架和指南,这对于确保这些仪器在各种应用中的准确性和可靠性至关重要。
您可能关注的文档
- 国际标准 IEC 62020:1998+AMD1:2003 CSV EN-FR 家用和类似用途剩余电流监视器 (RCM) 电气配件 Electrical accessories - Residual current monitors for household and similar uses (RCMs).pdf
- 国际标准 IEC 62020:1998+AMD1:2003 CSV EN-FR Electrical accessories - Residual current monitors for household and similar uses (RCMs) 家用和类似用途剩余电流监视器 (RCM) 电气配件.pdf
- 国际标准 IEC 62026-2:2008/AMD1:2019 EN-FR 修订1 - 低压开关柜和控制柜 - 控制器设备接口 (CDIs) - 第2部分:执行器传感器接口 (AS-i) Amendment 1 - Low-voltage switchgear and controlgear - Controller-device interfaces (CDIs) - Part 2: Actuator sensor interface (AS-i).pdf
- 国际标准 IEC 62026-2:2008/AMD1:2019 EN-FR Amendment 1 - Low-voltage switchgear and controlgear - Controller-device interfaces (CDIs) - Part 2: Actuator sensor interface (AS-i) 修订1 - 低压开关柜和控制柜 - 控制器设备接口 (CDIs) - 第2部分:执行器传感器接口 (AS-i).pdf
- 国际标准 IEC 62047-15:2015 EN-FR 半导体器件 - 微机电器件 - 第15部分:PDMS与玻璃间粘接强度的测试方法 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass.pdf
- 国际标准 IEC 62047-15:2015 EN-FR Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass 半导体器件 - 微机电器件 - 第15部分:PDMS与玻璃间粘接强度的测试方法.pdf
- 国际标准 IEC 62047-19:2013 EN-FR 半导体器件-微机电设备-第19部分:电子指南针 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19: Electronic compasses.pdf
- 国际标准 IEC 62047-19:2013 EN-FR Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 19: Electronic compasses 半导体器件-微机电设备-第19部分:电子指南针.pdf
- 国际标准 IEC 62052-31:2015 EN 电度计量设备(交流)——一般要求、试验及试验条件——第31部分:产品安全要求及试验 Electricity metering equipment (AC) - General requirements, tests and test conditions - Part 31: Product safety requirements and tests.pdf
- 国际标准 IEC 62052-31:2015 EN Electricity metering equipment (AC) - General requirements, tests and test conditions - Part 31: Product safety requirements and tests 电度计量设备(交流)——一般要求、试验及试验条件——第31部分:产品安全要求及试验.pdf
最近下载
- 做香囊(课件)-三年级上册劳动.pptx VIP
- 新思路大学英语基础教程第一册.docx VIP
- 2025年新疆阿勒泰地区布尔津县高校毕业生“三支一扶”计划招募11人笔试模拟试题及答案解析.docx VIP
- 2025年【合成氨工艺】考题(含答案) .docx VIP
- 重庆市人民小学四年级数学竞赛试卷及答案_学科竞赛.pdf VIP
- PC(装配式)结构施工监理实施细则.doc VIP
- 民警心理健康辅导课件.pptx VIP
- 考古与文物 讲座7-2元、明、清时期的瓷器.ppt VIP
- 考古与文物 讲座6-3中国古代青铜器的作伪与辨伪.ppt VIP
- 期末综合题训练-统编版七年级下册历史(含答案).docx VIP
文档评论(0)