【英/法语版】国际标准 IEC 62132-3:2007 EN-FR 集成电路-电磁抗扰度测量-150 kHz至1 GHz-第3部分：通流注入（BCI）方法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) method.pdf

IEC62132-3:2007EN-FR集成电路-电磁抗扰度测量，150kHz至1GHz-第3部分：阻性电流注入（BCI）方法是一种国际电工委员会（IEC）制定的标准，用于评估电子设备在电磁环境中的抗扰性能。它特别关注高频电流对设备性能的影响，特别是在150kHz至1GHz的频率范围内。

IEC62132标准系列是关于电子设备电磁抗扰度测量的综合性标准。该系列标准提供了各种测试方法，以评估电子设备的电磁兼容性（EMC）。IEC62132-3是该系列标准的一部分，专门关注高频电磁场对设备性能的影响。

阻性电流注入（BCI）方法是IEC62132-3标准中用于评估设备电磁抗扰度的一种方法。这种方法通过向电路注入阻性电流来模拟电磁干扰（EMI）。在高频环境中，这种注入的电流可能会对设备的性能产生影响。

使用BCI方法进行测试时，需要建立一个模拟电磁干扰的环境，并将待测试的设备置于其中。然后，通过适当的设备或技术向电路注入阻性电流。测试人员观察并记录设备在注入电流下的性能变化，以评估其对电磁干扰的抵抗能力。

IEC62132-3:2007EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticimmunity,150kHzto1GHz-Part3:Bulkcurrentinjection(BCI)method是一种用于评估电子设备在高频电磁环境中的抗扰性能的标准化方法。这种方法通过模拟阻性电流注入来评估设备对电磁干扰的抵抗力。