课堂作业1886090215_原创文档.pdfVIP

安徽科技学院

数字电子技术

课程实验

学院：理学院

班级：09级电子（2）班

姓名：刘冬冬

学号：1886090215

第四章

4.1集成逻辑门电路逻辑功能的测试。

一、试验目的

1.、熟悉Multisim8.0软件的基本功能和使用方法。

2、.熟悉如何使用Multisim8.0软件进行与非门、异或门的逻辑功能测试及其测试方法。

二、试验内容

TLT集成门电路逻辑功能的测试方法及应用。

4.11.、“与非门”逻辑功能的测试

（三输入与非门逻辑功能测试实验电路图如上）

电路逻辑功能表达式Y=(ABC)’

表4-1“与非门”逻辑功能真值表

输入逻辑状态输出

ABCTTL电位/V

1110/0V

0111/5V

0011/5V

0001/5V

4.12测试74LS86(四异或门)逻辑功能

异或门逻辑功能测试电路图如上所示）

⊕

电路逻辑功能表达式Y=AB

表4-2异或门逻辑功能真值表

输入逻辑状态电位/V

AB输出

000/0

011/5

101/5

110/0

“门”控制功能的测试

4.13“与非门”控制功能的静态测试

（异或门逻辑功能测试电路图如上）

4.14与非门控制功能的动态测试

（与非门逻辑测试电路图，矩形波仿真图如上）

表4-3与非门门控功能真值表

ABZ1BZ2

001