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集成电路故障诊断技术考核试卷

考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

一、单项选择题（本题共20小题，每小题1分，共20分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

1.集成电路故障诊断中，下列哪种方法属于非破坏性测试？（）

A.逻辑功能测试

B.热测试

C.电压测试

D.时序分析

2.在数字集成电路故障诊断中，下列哪个参数不会影响故障覆盖率？（）

A.电路的复杂度

B.故障模型的选择

C.测试序列的长度

D.环境温度

3.下列哪种故障模型适用于组合逻辑电路？（）

A.固定故障模型

B.时序故障模型

C.IDDQ故障模型

D.传输故障模型

4.在集成电路故障诊断中，下列哪个不是故障诊断的主要步骤？（）

A.故障检测

B.故障定位

C.故障修复

D.故障压缩

5.下列哪种测试方法适用于模拟集成电路的故障诊断？（）

A.功能测试

B.IDDQ测试

C.内部节点测试

D.边界扫描测试

6.在故障诊断中，下列哪个概念表示故障覆盖率与测试序列长度的关系？（）

A.故障检测率

B.故障覆盖率

C.测试效率

D.测试成本

7.下列哪种故障属于永久性故障？（）

A.粒子辐射引起的故障

B.电压过冲引起的故障

C.温度变化引起的故障

D.信号过冲引起的故障

8.在故障诊断中，下列哪种方法主要用于测试数字电路的输出功能？（）

A.边界扫描测试

B.IDDQ测试

C.功能测试

D.时序测试

9.下列哪种故障模型适用于时序逻辑电路？（）

A.固定故障模型

B.传输故障模型

C.IDDQ故障模型

D.时序故障模型

10.在集成电路故障诊断中，下列哪个方法可以提高故障覆盖率？（）

A.增加测试序列的长度

B.减少测试序列的长度

C.降低测试电压

D.提高测试温度

11.下列哪种测试方法适用于全芯片级的故障诊断？（）

A.功能测试

B.IDDQ测试

C.内部节点测试

D.边界扫描测试

12.在故障诊断中，下列哪个指标表示故障检测的能力？（）

A.故障覆盖率

B.故障检测率

C.测试效率

D.测试成本

13.下列哪种故障属于间歇性故障？（）

A.信号过冲引起的故障

B.粒子辐射引起的故障

C.电压过冲引起的故障

D.温度变化引起的故障

14.在故障诊断中，下列哪种方法主要用于定位故障？（）

A.功能测试

B.IDDQ测试

C.状态机测试

D.边界扫描测试

15.下列哪个参数会影响故障诊断的准确性？（）

A.测试序列的长度

B.电路的复杂度

C.故障模型的选择

D.以上都对

16.在集成电路故障诊断中，下列哪个方法可以降低测试成本？（）

A.增加测试序列的长度

B.减少测试序列的长度

C.采用高成本的测试设备

D.提高测试温度

17.下列哪种故障模型适用于模拟/数字混合集成电路？（）

A.固定故障模型

B.时序故障模型

C.IDDQ故障模型

D.传输故障模型

18.在故障诊断中，下列哪个方法可以加快故障诊断的速度？（）

A.增加测试序列的长度

B.减少测试序列的长度

C.提高测试温度

D.采用并行测试技术

19.下列哪种故障属于暂时性故障？（）

A.信号过冲引起的故障

B.粒子辐射引起的故障

C.电压过冲引起的故障

D.温度变化引起的故障

20.在故障诊断中，下列哪种方法主要用于检测芯片内部节点的故障？（）

A.功能测试

B.IDDQ测试

C.内部节点测试

D.边界扫描测试

二、多选题（本题共20小题，每小题1.5分，共30分，在每小题给出的四个选项中，至少有一项是符合题目要求的）

1.以下哪些方法可以用于集成电路故障诊断？（）

A.逻辑功能测试

B.电压测试

C.IDDQ测试

D.以上都是

2.以下哪些因素会影响集成电路故障诊断的效率？（）

A.测试序列的长度

B.电路的规模

C.故障模型的选择

D.测试设备的成本

3.以下哪些故障模型适用于数字集成电路？（）

A.固定故障模型

B.时序故障模型

C.IDDQ故障模型

D.A和B

4.在进行故障诊断时，以下哪些做法是合理的？（）

A.先进行功能测试

B.再进行故障定位

C.直接进行故障修复

D.A和B

5.以下哪些测试方法适用于模拟集成电路？（）

A.功能测试

B.传输函数测试

C.IDDQ测试

D.A和B

6.以下哪些指标可以用来评价故障诊断的效果？（）

A.故障覆盖率

B.故障检测率

C.测试效率

D.A和B

7.以下哪些故障属于永久性故障