1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内外标准规范

【英语版】国际标准 ISO 14606:2015 EN Surface chemical analysis — Sputter depth profiling — Optimization using layered systems as reference materials 表面化学分析 溅射深度剖面分析 使用层状系统作为参考材料进行优化.pdf

  • 0
  • 0
  • 2024-08-10 发布于四川
  • 正版发售
  • 废止
  • 已被废除、停止使用，并不再更新修订
  •   |  2015-12-01 颁布

【英语版】国际标准 ISO 14606:2015 EN Surface chemical analysis — Sputter depth profiling — Optimization using layered systems as reference materials 表面化学分析 溅射深度剖面分析 使用层状系统作为参考材料进行优化.pdf

    1. 1、本标准文档预览图片由程序生成，具体信息以下载为准。
    2. 2、本网站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
    3. 3、本网站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
    4. 4、标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题
    查看更多

    ISO14606:2015是国际标准化组织关于表面化学分析——溅射深度剖面的标准，用于优化使用分层系统作为参考材料的溅射深度剖面技术。这个标准为实验人员在利用这种方法对材料进行分析时提供了指导和参考。这个标准包括如何设计和操作实验以获取准确且可靠的深度剖面数据，并包括了一系列的技术要求和标准。需要注意的是，为了充分利用这个标准，需要具备一定的表面化学分析和实验操作的知识和经验。

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    中国质量标准出版传媒有限公司标准出版社
    咨询Ta
    认证类型官方认证
    认证主体北京标科网络科技有限公司
    IP属地四川
    统一社会信用代码/组织机构代码
    91110106773390549L

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >