【英语版】国际标准 ISO 17867:2015 EN 粒度分析 小角 X 射线散射 Particle size analysis — Small-angle X-ray scattering.pdf

ISO17867:2015颗粒尺寸分析—小角X射线散射（ISO17867:2015ENParticlesizeanalysis—Small-angleX-rayscattering）是一套关于颗粒尺寸分析的标准，特别关注于使用小角X射线散射（SAXS）技术来测量颗粒大小的方法。

SAXS是一种用于研究颗粒在散射X射线下的强度分布的技术，它提供了一种非侵入性的方法来研究颗粒的尺寸、形状、结构和取向。这种方法特别适用于纳米颗粒和微米颗粒的研究，因为它可以提供有关颗粒内部结构和取向的信息，而不仅仅是颗粒的尺寸。

在使用SAXS进行颗粒尺寸分析时，通常需要以下步骤：

1.样品制备：需要将待测颗粒制成适当的样品，以便能够进行X射线散射。这可能涉及将颗粒分散在适当的基质中，或将颗粒固定在特定的载体上。

2.测量和数据处理：使用SAXS设备进行散射测量，通常需要将样品置于特殊的探测器系统中。然后，通过分析测量数据，可以获得有关颗粒大小、形状、结构和取向的信息。

3.数据分析与解释：通过对测量数据进行处理和分析，可以得出有关颗粒尺寸的结论。通常，需要使用专门的软件来处理和分析SAXS数据，以便获得准确的结果。

ISO17867:2015标准为使用SAXS进行颗粒尺寸分析提供了一套详细的方法和指导原则。它为研究人员、工程师和科学家提供了关于如何使用SAXS技术进行颗粒尺寸分析的详细信息，从而有助于更好地理解颗粒的行为和性质。