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实验一门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1．掌握CMOS、TTL集成与非门的逻辑功能测试方法。
2．掌握CMOS、TTL器件的使用规则。
3．熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法
二、实验内容
1．验证CMOS（TTL）集成与非门74HC00（74LS00）的逻辑功能。
2．74HC00（74LS00）电压传输特性测试。
三、实验设备及器件
数字电路实验台、74HC00（74LS00）、万用表
四、实验原理
1．芯片介绍
本实验采用二输入四与非门74HC00（74LS00），在一块集成块内含有四个相互独立
的与非门，每个与非门有两个输入端，其引脚排列如图1所示。
图174LS00（74HC00）引脚图
与非门的逻辑功能实：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；
只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有0得1，全1得0）。
2.74HC00（74LS00）电压传输特性
门的输出电压V随输入电压V而变化的曲线，称为门的电压传输特性，通过它可
OI
以读得门电路的一些重要参数，如输出高电平V、输出低电平V、阈值电压V、及
OHOLTH
抗干扰容限等值。测试电路如图2所示。采用逐点测试法，及调节滑动变阻器，逐点测
得V和V，然后绘制曲线。
IO
图274HC00（74LS00）电压传输特性测试电路
五、实验步骤
1.测试74HC00（74LS00）的逻辑功能
门的输入端接逻辑电平开关输出插口，以提供0与1电平信号，开关向上，输出为
逻辑1，向下为逻辑0。门的输出端接由LED发光二极管组成的逻辑电平显示器（又称
0-1指示器）的显示插口，LED亮为逻辑1，不亮为逻辑0。按表1逐个测试集成块中与
非门的逻辑功能，判断芯片逻辑功能是否正常。
表174HC00（74LS00）逻辑功能
ABY
00
01
10
11
2.测试相关数据，并绘制电压传输特性曲线图。
按图2接线，调节电位器RW，使VI从0V向高电平变化，逐点测得VI和VO的对
应值，记入表2中（芯片采用TTL门电路74LS00时，记入表3中）。表格记录数据也可
自己设计。
表2
U(V)00.51.01.52.02.22.42.52.62.83.03.54.0
i
U(v)
o
U(V)4.55.0
i
U(v)
o
表3
U(V)00.20.40.60.81.01.21.41.61.82.02.53.0
i
U(v)
o
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