课件正畸头影测量.pdf

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X线头影测量学

CEPHALOMETRICS

大学华西口腔医学院

正畸教研室

目的AIMS

了解X线头颅侧位片的拍摄及描绘方法

熟悉常用标志点的定位,测量平面及测量项

目的组成及意义

定义DEFINITION

在利用头颅定位仪拍摄所得

的影像上,通过对牙颌、颅面

各标志点描绘出一定的线角进

量分析,从而了解其软硬

组织的结构;使对牙颌、颅面

的检查诊断从表面形态深入到

的骨骼结构中去。

发展史HISTORY

1

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