标准加入法测定水中铜课件.pptxVIP

标准加入法测定水中微量铜;;干扰：在原子吸收测定中受一些化学或物理因素的影响使得测定结果

偏高或偏低的现象。;产生原因：由于溶液的物理性质（如粘度、表面张力、密度和蒸气压等）的变化而引起原子吸收强度下降的效应。

物理干扰是非选择性干扰，对试样各元素的影响基本相同。

物理干扰主要发生在试液抽吸过程、雾化过程和蒸发过程。

消除方法：消除物理干扰的主要方法是配制与被测试样相似组成的标准溶液。

;产生原因：由于在样品处理及原子化过程中，待测元素的原子与干扰物质组分发生化学反应，形成更稳定的化合物，从而影响待测元素化合物的解离及其原子化，致使火焰中基态原子数目减少，而产生的干扰。

化学干扰是一种选择性干扰。

消除方法：

使用高温火焰（氧化亚氮/乙炔火焰），使化合物在较高温度下解离；

加入释放剂（镧盐）；(动画m2-4-3.swf）

加入保护剂（EDTA）；

化学分离干扰物质；

加入基体改进剂（用于电热原子化法）。

;产生原因：在高温下，原子电离成离子，而使基态原子数目减少，导致测定结果偏低，此种干扰称电离干扰。

电离干扰主要发生在电离势较低的碱金属和部分碱土金属中。

消除方法：消除电离干扰最有效的方法是在试液中加入过量比待测元素电离电位低的其他元素（通常为碱金属元素）。;产生原因：光谱干扰是由于分析元素吸收线与其他吸收线或辐射不能完全分开而产生的干扰。

光谱干扰包括谱线干扰（吸收线重叠；光谱通带内存在的非吸收线）和背景干扰两种。

消除方法：

吸收线重叠－另选其他无干扰的分析线进行测定或预先分离干扰元素。

光谱通带内存在的非吸收线－减小狭缝或适当减小灯电流。

原子化器内直流发射干扰－光源进行机械调制，或者是对空心极灯采用脉冲供电。

背景干扰－用氘灯校正背景。;按照下表中所示配制标准加入系列溶液，并测量吸光度。;测量溶液的吸光度，绘制A-C标准加入工作曲线。;标准加入法将样品与标准混合后测定吸光度，达到了标准与样品基体的相似，因此消除了基体干扰，但是它不能消除背景干扰，消除背景干扰需采用背景校正技术。

标准加入法每测定一个样品需要制作一条工作曲线，不适合大批量样品的测定。适合于基体复杂的少量样品的测定。;按照前面表中的数据配制溶液。

打开原子吸收分光光度计，安装铜空心阴极灯，设定仪器条件：

测量波长：324.8nm；

光谱带宽：0.4nm；

空心阴极灯电流：3mA；

乙炔流量：2000mL/min；

燃烧器高度：6mm。

实验方法中选择标准加入法。

点火预热20min。

测量溶液吸光度，绘制工作曲线，由曲线延长线与浓度轴的交

点查得试样浓度。;水试样中铜含量;标准加入法注意事项

相应的标准曲线应是一条通过原点的直线，待测组分的浓度应在此线性范围之内。

第二份中加入的标准溶液的浓度与试样的浓度应当接近，以免曲线的斜率过大或过小，使测定误差较大。

为了保证能得到较为准确的外推结果，至少应采用四个点来制作外推曲线。

影响测定准确度的因素：溶液的配制；仪器条件的设置；操作的误差；周围环境的影响（如空气对流，电压的波动，机械振动等）;若水样中铜的含量很高，超出了工作曲线的线性范围，这时如何利用标准加入法定量？;原子吸收标准加入法适用于样品基体复杂，存在基体干扰的情况。我们如何判断样品中是否存在干扰？请同学们自己查找有关资料找出答案。