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Characterizationofnanoparticlesusing
AtomicForceMicroscopy;Abstract.;1.Introduction
2.PreparationandExperimentalset-up
3.ResultsandDiscussion.
4.Conclusion;Introduction;2.PreparationandExperimentalset-up;;;;;;;;与化学处理的Si相比〔图4〔b〕〕,清洁Si外表上的TiO2纳米颗粒
的密度〔图4〔a〕〕非常高。原因在Si外表上的化学处理增加了外表的
疏水性,从而降低了纳米颗粒的粘附。尽管在溶液中具有相同的浓度,
图〔a〕显示707个颗粒,图〔b〕仅显示11个颗粒。可以看出,化学处
理〔硅烷化〕增加了Si衬底的疏水性。当纳米颗粒的水性悬浮液沉积在
该基底上时,外表排斥悬浮液,因此纳米颗粒不粘附于外表。这就是为
什么在化学处理的Si衬底上TiO2纳米颗粒的密度降低的原因。;1底物的性质起着非常重要的作用;它影响纳米颗粒的数量和沉积在其外表上的颗粒的分布。可以看出,当沉积在云母上时,ZrO2纳米颗粒似乎
形成团聚体,而在Si基底上,它们看起来分布良好。这可能是由于云母的
亲水性质。
2还可以看出,Si的化学处理〔硅烷化〕增加了其外表的疏水性。当纳米颗粒的水性悬浮液沉积在该基底上时,外表排斥悬浮液,因此纳米颗粒不粘附于外表。这就是为什么在化学处理的Si衬底上的TiO2纳米颗粒与干净的Si相比具有降低的密度的原因。看来,纳米颗粒对基底的粘附性随着外表的疏水性的增加而降低,反之亦然。
3纳米颗粒外表的性质也影响基底上的分布。TiO2和ZrO2纳米颗粒具
有防止它们形成附聚物的化学处理的外表。而Al2O3纳米颗粒是裸露的,
因此具有彼此比基底更好地粘附并且倾向于凝结的倾向。;一句话总结:用AFM观察通过使用不同种类的基底研究纳米
颗粒的行为和通过使用化学改性的方法改变基底的性质研
究其行为。文中通过TiO2,ZrO2和Al2O3纳米颗粒以不
同的浓度施加在不同种类的基底上,并通过AFM在动态模
式下成像。发现所得图像受所用基底的种类,纳米颗粒表
面的性质以及纳米颗粒悬浮液的稀释的影响。;
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