磁光克尔效应仪中光电探测器的制作.docx

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磁光克尔效应仪中光电探测器的制作是一项重要的科研项目本报告旨在通过光电探测器,实现实验测量中磁性材料的性质使用光敏元件收集的光信号通过光电检测器,通过相关理论获得诸如薄膜样品矫顽力磁各异性磁性超薄膜的磁有序磁性超薄膜的相变行为等方面的重要信息,并利用激光照射改变材料表面的磁化状态,实现磁性材料的高效存储和检索

磁光克尔效应仪光电探测器研究报告

项目的背景

1877年JohnKerr发现当一束线偏振光经过电磁铁次级表面的反射以后,光线的偏振状态发生了改变,这个现象被命名为磁光克尔效应。此后,磁光克尔效应被广泛地应用在对磁性材料表面信息的研究中,通过磁光克尔效应可以得到磁性材料薄膜的磁滞回线,对磁性材料的研究有着重要意义。此外,磁光克尔效应还应用在磁性材料的信息读取技术中。磁光盘是依靠附着在磁光盘表面的磁光介质存储信息的,在写入信息时,需要通过激光照射使得材料表面局部受热而易于磁化,这时利用外加磁场可以改变介质点的磁化状态,磁化状态可以分为磁化方向向上和向下两种状态,这两种状态就代表信息的“

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