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晶圆级扇出型封装工艺详解--第1页
扇出型晶圆级封装技术采取在芯片尺寸以外的区域做I/O接点的
布线设计,提高I/O接点数量。采用RDL工艺让芯片可以使用的布线
区域增加,充分利用到芯片的有效面积,达到降低成本的目的。扇出
型封装技术完成芯片锡球连接后,不需要使用封装载板便可直接焊接
在印刷线路板上,这样可以缩短信号传输距离,提高电学性能。
扇出型晶圆级封装技术的优势在于能够利用高密度布线制造工艺,
形成功率损耗更低、功能性更强的芯片封装结构,让系统级封装
(SysteminaPackage,SiP)和3D芯片封装更愿意采用扇出型晶圆级
封装工艺。
第一代FOWLP技术是由德国英飞凌(Infineon)开发的嵌入式晶
圆级球栅阵列(EmbeddedWaferLevelBallGridArray,eWLB)技术(见
图1),随后出现了台积电(TSMC)的整合式扇出型晶圆级封装
(IntegratedFan-OutPackage,InFO)技术和飞思卡尔(Freescale)的重
分布芯片封装(RedistributedChipPackage,RCP)技术等。由于其成本
相对较低,功能性强大,所以逐步被市场接受,例如苹果公司(Apple)
已经在A12处理器采用扇出型封装进行量产。同时其不仅在无线领域
发展迅速,现在也正渗透进汽车和医疗应用,相信未来我们生活中的
大部分设备都会采用扇出型晶圆级封装工艺。
晶圆级扇出型封装工艺详解--第1页
晶圆级扇出型封装工艺详解--第2页
图1英飞凌eWLB工艺技术示例图
传统的封装技术如倒装封装、引线键合等,其信号互连线的形式
包括引线、通孔、锡球等复杂的互连结构。这些复杂的互连结构会影
响芯片信号传输的性能。在扇出型封装中(见图2),根据重布线的工
序顺序,主要分为先芯片(Chipfirst)和后芯片(Chiplast)两种工艺,
根据芯片的放置方式,主要分为面朝上(Faceup)和面朝下(Facedown)
两种工艺,综合上述四种工艺,封装厂根据操作的便利性,综合出以
下三种组合工艺,分别是面朝上的先芯片处理(Chipfirst-faceup)、
面朝下的先芯片处理(Chipfirst-facedown)和面朝下的后芯片处理
(Chiplast-facedown)。接下来分别对这三种工艺进行阐述。
晶圆级扇出型封装工艺详解--第2页
晶圆级扇出型封装工艺详解--第3页
图2FOWLP工艺互连结构示意图
1、面朝上的先芯片处理。
面朝上是让芯片的线路面朝上,采用RDL工艺的方式构建凸块,
让I/O接触点连接,最后切割单元芯片。(见图3)
图3面朝上的先芯片处理工艺示意图
面朝上的先芯片处理工艺流程如下:
晶圆级扇出型封装工艺详解--第3页
晶圆级扇出型封装工艺详解--第4页
2、面朝下的先芯片处理。
面朝下是让芯片的线路面朝下的工艺。面朝下与面朝上的区别主
要在于芯片带有焊盘一侧的放置方向不同。(见图4)
晶圆级扇出型封装工艺详解--第4页
晶圆级扇出型封装工艺详解--第5页
图4面朝下的先芯片处理工艺示意图
面朝下的先芯片处理工艺流程如下:
晶圆级扇出型封装工艺详解--第5页
晶圆级扇出型封装工艺详解--第6页
3、面朝下的后芯片处理。
后芯片是先在临时胶带表面进行R
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