《低温材料基础》 课件 第八章 材料低温热物理和电学性能测量.ppt

1.3.1.3差分量热法1.3低温比热测试如试样架和参考试样架对称分布，上面两式相减，得到差分比热如S2为空，则ΔC即为待测试样的比热，且已扣除附加物的比热S1为待测试样，S2为空或者标准参考样品。试验时给两个试样分别以P1和P2加热功率以同样的升温速率dT/dt升温，在绝热条件下有采用低温热导率较低的不锈钢管将试样S1和S2弱连接，在每次加测前使待测试样达到近似热平衡1.3.1.3差分量热法1.3低温比热测试用测温元件跟踪S1和S2之间的温差δT=ΔT1?ΔT2优缺点：具有较高的相对精度（其绝对测量值有赖于参考试样），消除了由剩余气体和热辐射所引起的与环境之间的不可控的热交换所产生的系统误差；然而局限性在于样品系统的内平衡时间的有限性。应用：适用于研究少量杂质对材料比热的影响，以及比较合金成分变化对比热的影响。1.3低温比热测试1.3.2非稳态量热法1.3.2.1热弛豫法1.3低温比热测试1.3.2.1热弛豫法当K2?K1时，样品台温度Ta与试样温度Tx近似相等样品台与试样在停止加热后温度随时间的降低过程式中，τ为时间常数通过测量该过程中温度随时间变化的曲线并使用上述方程对曲线进行拟合即可得到时间常数τ，进而可以得到试样的比热cx1.3低温比热测试1.3.2.2交流量热法应用：适合小质量试样比热测量（小于0.2g）。其热容测量精度可达10-8～10-12J/K。其测量不确定度一般在1%～8%之间1.3低温比热测试1.3.2.3差分弛豫法差分量热法与热弛豫法的结合试验中通过控制初始温差一致，并把试样S1和参考试样S2的温差响应信号置于电桥电路的两端，当两样品架完全对称，试样S1和参考试样S2的弛豫时间相等，则有c1/c2≈P1/P21.3低温比热测试1.3.2.4连续加热法连续加热过程中，试样体系的热流为差示扫描量热仪（DSC）优缺点：测量温区宽、所需试样量少、获得的数据点密集和测试时间短等，尤其在高温区具有高精度，测量不确定度可小于3%；然而测量不确定度相对较大。1.4低温发射率测量发射率光谱定向发射率全波长定向发射率光谱半球发射率全波长半球发射率低温系统设计量热法反射法能量法多波长法TechnicalInstituteofPhysicsChemistry,ChineseAcademyofSciencesTechnicalInstituteofPhysicsChemistry,ChineseAcademyofSciences*低温材料基础第一章：绪论第二章：材料低温力学性能第三章：材料低温物理性能第四章：金属材料第五章：非金属材料第六章：实用超导材料第七章：材料低温力学性能测量方法第八章：材料低温热物理和电学性能测量方法第八章

材料低温热物理和电学性能测量方法一、低温热物理性能测量方法二、低温电学性能测量方法一、低温热物理性能测量方法热膨胀热导率、热扩散率、比热、发射率…反映物体体积随温度变化行为与传热过程密切相关热膨胀热导率、热扩散率、比热、发射率…本节主要介绍固体材料低温热膨胀、热导率、比热和发射率的测量方法1.1低温热膨胀性能测量直接法：测量材料随温度变化而变的变形量。间接法：测量试样随温度变化时的应变。光干涉膨胀计法（电容桥式、电感式、干涉式、光学等）顶杆膨胀计法容式膨胀计法光纤光栅法…应变片法…1.1低温热膨胀性能测量1.1.1光干涉膨胀计法在真空及入射光与两反射面垂直的条件下，产生干涉条纹的条件为式中，ΔN为干涉条纹的数目，λ为单色光真空中的波长因此样品的热膨胀系数与干涉纹数目的关系为优点：高精度、高分辨率、非接触以及可实时观测等适用范围：各向同性或各向异性材料的弹性、弹塑性甚至大塑性等范围内1.1.1光干涉膨胀计法双光程激光干涉仪原理：测量光束和参考光束在各自的传播途径中多往返一次优点：光学分辨能力较单光程法提高一倍；此外，由于测量光束在试样表面反射两次，从而降低了试样偏转对测试结果的不利影响1.1低温热膨胀性能测量获得光束和干涉计算方法：经典干涉法全息干涉法云纹干涉法散斑干涉法光干涉膨胀计法可用于低温热膨胀系数测量，精度可达10-8K-1。光干涉膨胀计法用于低温热膨胀