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傅里叶变换红外光谱法（FTIR）

达妮埃拉·平娜（DanielaPinna）

1.分类

傅里叶变换红外光谱法（Fouriertransforminfrared

spectroscopy，FTIR）过去只能进行侵入式检测，但随着近年来仪器

设备的进步，已实现了FTIR的非侵入式分析。在检测对象受测部位

的尺寸与位置符合条件时，也可用手持式FTIR光谱仪进行非侵入式

表面分析，而中红外光纤耦合台式FTIR设备可进行反射率测量。不

过侵入式FTIR现在仍很常用，主要是因为相较于所获信息的价值，

所需的微小样品量（μg）还是可以接受的。

2.说明

FTIR可获取有机材料与无机材料的定量和定性数据。将样品置

于IR射线束通路上，部分光束在照射到样品前被衍射，而剩余部分

通过样品。对两个光束加以测量，再根据它们的差异计算出样品对各

种波长红外线的吸收情况，并以谱图的形式加以表示，通常表示为强

度与波数（波长的倒数，单位cm–1）的关系曲线图（图4）。在谱图

中，强度可表示为样品在每种波数下的透光率或吸光度的百分比数值。

光谱中的峰代表一个分子内两个原子或原子团之间的化学键，凭借这

些吸收带，即可识别分子的成分与结构。这种谱图有如受测化学物质

的指纹，可以利用它们来区分不同的化学物质。

图4一件未知样品FTIR光谱（蓝色曲线）与标准谱（含有动物

胶与全蛋成分的黏结剂）比对

2.1透射FTIR

大部分材料对红外辐射都有较强的吸收性，因此必须将样品制备

成薄膜，或用非吸收性基质稀释后，才能用透射法进行测量。对于不

需要特定位置信息的固体样品，常用制样方法是将材料研磨成细粉，

然后分散在液体中调成糊状，平涂在两块IR透明窗片（如KBr）之

间。粉末研磨后也可不加液体，而与KBr粉末混合压成KBr压片。制

备好的样品即可放入光谱仪中进行透射分析。这种方法不适用于需做

表面分析的样品，但可用于表征块体样品。

2.2反射FTIR

漫反射法是将光束打到漫反射样品（如粉末）上，从多个位置射

入材料，光线分散后部分被吸收，部分反射出来，并生成漫反射光谱。

光线穿透样品射出称为漫透射，而光线沿入射方向返回则称为漫反射。

如入射光束与样品发生相互作用，光束就会变弱。反射光谱法与透射

光谱法相似，但不完全相同。漫反射会受到颗粒大小和形状的影响，

且总伴随着少量的镜面反射或前表面反射。光的穿透深度一般在毫米

级，但因样品吸收强度而异。强吸收材料会降低光束的有效路径长度

和穿透深度，因此，它也是非常不规律的。漫反射是一种非接触式方

法，可使用所有种类的光谱分析窗片。

衰减全反射（attenuatedtotalreflection，ATR）法则完全不

同。它测量的是红外光束接触样品并反射后发生的变化。先将红外光

束投到一块具有高折射率的光学致密晶体上（ATR晶体材料包括锗、

KRS-5、硒化锌、硅、金刚石）。光束在晶体内部反射会产生一个衰减

波，这个波会透出晶体表面，触及与晶体接触的样品。在红外光谱段

上样品吸收能量的区域，衰减波会发生衰减或改变。衰减的能量又会

以红外光束的形式传回，从晶体另一端射出并到达红外光谱仪的探测

器。于是系统就会生成红外光谱。ATR检测无须制样。它只分析材料

的上表面（最表层1~10μm），因此非常适合检测量少的物质。这种

方法在中红外区域最灵敏。

2.3显微-FTIR

具有透射或反射功能的红外显微镜，对样品的观察和测量区域最

小可至5μm。用这种技术成像时，可生成每个点位的光谱，也可按

不同的波长或波长组合来显示所有点位的强度分布图。这样就可以对

样品中不同化学物质的分布进行成像。ATR反射FTIR可以检测颜料

薄片样品和颜料断面样品，是少数几种能够获得颜料中黏结剂相和无

机相分布信息的方法之一。分析单个颗粒时，可将颗粒放入金刚石压

砧再用FTIR显微镜检测。也可将微样品放置在NaCl窗片上分析；这

种技术尤其适合分析用微溶剂萃取法获得的材料（如有机黏结剂、染

料等）。

3.应用

这种技术的价值在于它的灵敏度、特异性和对多层材料中各种成

分的识别能力。FTIR一般用于颜料粉、着色剂及染料、黏结剂、大

漆、光油、树脂、封