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X射线粉末衍射仪（XRD）介绍

一.衍射分析技术的发展

自1896年X射线被发现以来，可利用X射线分辨的物质系统越来越复杂。从简

单物质系统到复杂的生物大分子，X射线已经为我们提供了很多关于物质静态结构的

信息。止匕外，在各种测量方法中，X射线衍射方法具有不损伤样品、无

污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。由于晶体存在

的普遍性和晶体的特殊性能及其在计算机、航空航天、能源、生物工程等工业领域的

广泛应用，人们对晶体的研究日益深入，使得X射线衍射分析成为探究晶体最方便、

最重要的手段。

二.基本构造及原理

2.1基本构造

X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，主要部件包括4部

分。

（1）高稳定度X射线源提供测量所需的X射线，改变X射线管阳极靶材质可改变X

射线的波长，调节阳极电压可控制X射线源的强度。

X射线衍射仪按其X射线发生器的额定功率分为普通功率（2~3kW和高功率两类，

前者使用密封式X射线管，后者使用旋转阳极X射线管（12kW以上）。所以高功率X

射线衍射仪又称为高功率旋转阳极X射线衍射仪。

（2）样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶

的固体块。

X射线衍射仪按其测角台扫描平面的取向有水平（或称卧式）和垂直（又称立式）

两种结构，立式结构不仅可以按q-2q方式进行扫描，而且可以实现样品台静止不动的

q-q方式扫描。

（3）射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向，通过仪器测量记录系统或计算

机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。

X射线衍射仪使用的X射线检测器一般是NaI闪烁检测器或正比检测器，已经有

将近半个世纪的历史了。现在，还有一些高性能的X射线检测器可供选择。如：半导

体致冷的高能量分辨率硅检测器，正比位敏检测器，固体硅阵列检测器，CCC0积检测

器等等，都是高档衍射仪的可选配置。

(4)衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件

的计算机系统，它们的特点是自动化和智能化。

计算机系统是现代X射线衍射仪的不可缺少的部分，系统里装备的专用软件成为

了仪器的灵魂，使仪器智能化。它的基本功能是按照指令完成规定的控制操作、数据

采集，并成为操作者的得力的数据处理、分析的辅导员或助手。但是，现在还没有一

种仪器所带的软件能够包解决一切衍射分析问题的。优秀的第三方的(免费的、共享的

或需要付费的)X射线衍射分析的数据处理、分析软件不断涌现，各有千秋。使用者要

根据自己的实际需要去选择，及时更新。

2.2X射线衍射原理

1912年劳埃等人根据理论预见，并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射

现象，证明了X射线具有电磁波的性质，成为X射线衍射学的第一个里程碑。当一束

单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列

的原子距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，

问在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结

构密切相关。这就是X射线衍射的基本原理。衍射线空间方位与晶体结构的关系可用

布拉格方程表示：

布拉格方程是给出晶体X射线衍射方向的方程。

2dsin0=nX

d为晶面间距，9为入射束与反射面的夹角，入为X射线的波长，n为衍射级数，

其含义是：只有照射到相邻两镜面的光程差是X射线波长的n倍时才产生衍射。

该方程是晶体衍射的理论基础

.X射线衍射分析的应用

3.1物相分析

晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换，每种晶体

的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系，其特征X射线衍射图谱不会因

为它种物质混聚在一起而产生变化，这就是X射线衍射物相分析方法的

依据。制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，将待分析物质的衍射花

样与之对照，从而确定物质的组成相，就成为物相定性分析的基本方法。鉴定出各个

相后，根据各相花样的强度正比于改组分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可

对各种组分进行定量分析。目前常用衍射仪法得到衍射图谱，用“粉末衍射标准联合

会（JCPD$”负责编辑出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”进行物