纳米材料第四章-表征技术-3.ppt

粒度分析方法粒度分析的概念

?????大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成，因此，细微颗粒材料的形状和大小对材料结构和性能具有重要的影响。尤其对于纳米材料，其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。因此，对纳米材料的颗粒大小、形状的表征和控制具有重要的意义。一般固体材料颗粒大小可以用颗粒粒度概念来描述。但由于颗粒形状的复杂性，一般很难直接用一个尺度来描述一个颗粒大小，因此，在粒度大小的描述过程中广泛采用等效粒度的概念。

几个基本概念(1)关于颗粒及颗粒度的概念晶粒：是指单晶颗粒，即颗粒内为单相，无晶界．一次颗粒：是指含有低气孔率的一种独立的粒子，颗粒内部可以有界面，例如相界、晶界等．团聚体：是由一次颗粒通过表面力或固体桥键作用形成的更大的颗粒．团聚体内含有相互连接的气孔网络．团聚体可分为硬团聚体和软团聚体两种．团聚体的形成过程使体系能量下降．二次颗粒：是指人为制造的粉料团聚粒子；例如制备陶瓷的工艺过程中所指的“造粒”就是制造二次颗粒．纳米粒子一般指一次颗粒．结构可以是晶态、非晶态和准晶．可以是单相、多相结构，或多晶结构．只有一次颗粒为单晶时，微粒的粒径才与晶粒尺寸(晶粒度)相同．(2)颗粒尺寸的定义对球形颗粒来说，颗粒尺寸(粒径)即指其直径．对不规则颗粒，尺寸的定义为等当直径，如体积等当直径，投影面积直径等等．常用的方法粒径评估的方法透射（扫描）电镜观察法探针扫描显微镜比表面积法X射线衍射线线宽法(谢乐公式)筛分法沉降法激光粒度分析法（1）透射电镜观察法测量方法3种①交叉法：任意地测量约600颗粒的交叉长度，然后将交叉长度的算术平均值乘上一统计因子(1.56)来获得平均粒径；②平均值法：量约100个颗粒中每个颗粒的最大交叉长度，颗粒粒径为这些交叉长度的算术平均值；③分布图法：求出颗粒的粒径或等当粒径，画出粒径与不同粒径下的微粒数的分布图，将分布曲线中峰值对应的颗粒尺寸作为平均粒径。透射电镜观察法注意的问题测得的颗粒粒径是团聚体的粒径在制备超微粒子的电镜观察样品时，首先需用超声波分散法，使超微粉分散在载液中，有时候很难使它们全部分散成一次颗粒，特别是纳米粒子很难分散，结果在样品Cu网上往往存在一些团聚体，在观察时容易把团聚体误认为是一次颗粒。测量结果缺乏统计性这是因为电镜观察用的粉体是极少的，这就有可能导致观察到的粉体的粒子分布范围并不代表整体粉体的粒径范围。电镜观察法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度．这是一个很好的方法，因为它允许直接查看所被讨论的颗粒。因此，可以看到颗粒的形状，也可以用来判断是否达到了良好的分散或者样品中是否存在凝聚。这种方法相对廉价，并有些显微镜系统可用图像分析来获得数量分布。电子显微镜需要精心的样品制备，而且速度慢。使用手动显微镜，检查的颗粒很少（对于一个熟练的操作员来说，一天可能检查2000个），而且操作员会很快疲劳。这里也有“我们测量哪个尺寸？”的问题，因此，对于同一个样品，会有很大的因操作员不同而产生的可变性。（2）扫描探针显微镜通过扫描获得纳米粒子的形貌。对粒子的形貌尺寸进行统计分析。而获得粒子粒径。与电镜类似，得到的是颗粒或团聚体的粒径。粒子粒径可利用仪器自带的图形处理软件分析粒径。由于针尖放大效应，测量粒径一般要大于实际粒径。（4）X射线衍射线线宽法(谢乐公式)是测定颗粒晶粒度的最好方法．当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度．颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度．这种测量方法只适用晶态的纳米粒子晶粒度的评估。实验表明晶粒度小于等于50nm时，测量值与实际值相近，测量值往往小于实际值．（5）筛分法这是一种极为古老的方法，它的优点在于廉价，所以适合用于采矿业中较大的颗粒。不可能测量喷雾或乳剂。测量小于400目的干燥粉末非常困难。湿筛分据说可以解决这个问题，但这种方法的结果再现性非常差，而且难以实施。难以测量粘性和成团的材料例如粘土。(6)沉降法在油漆和陶瓷行业这是一个传统的测量方法。如果对小于2μm的颗粒使用沉降，会产生非常大的误差（大约20%），对于0.5μm颗粒误差会超过100%平均测量时间是25分钟至1小时，很难重复分析，并增加了再附聚的可能性。精确的温度控制。必须这样做以防止温度梯度和粘度变化。（7）激光粒度分析法根据光学衍射和散射原理，光电探测器把检测到的信号，转换成相应的电信号，电信号经放大，输入到电脑，电脑根据测得的各个环上的衍射能值，专有软件分析出粒度分