T_CESA《半导体集成电路 低功耗双倍数据速率同步动态随机存储器（LPDDR5）应用场景测试方法》.pdf

ICS31.200

CCSL56

团体标准

T/CESAXXX—202X

半导体集成电路低功耗双倍数据速率同步

动态随机存储器（LPDDR5）应用场景测试方

法

Semiconductorintegratedcircuits-

Testmethodsforthe5thLowPowerDoubleDataRateSDRAMinapplication

scenario

征求意见稿

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

已授权的专利证明材料为专利证书复印件或扉页，已公开但尚未授权的专利申请

证明材料为专利公开通知书复印件或扉页，未公开的专利申请的证明材料为专利申请

号和申请日期。

2023-XX-XX发布2023-XX-XX实施

中国电子工业标准化技术协会发布

T/CESAXXXX—202X

目次

前言III

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4缩略语3

5一般要求4

5.1测试项目选择4

5.2测试条件要求4

5.3测试设备要求5

5.4测试结果验收5

5.5测试报告5

6可靠性测试项目6

6.1环境关机6

6.2双85测试7

6.3功耗测试8

6.4温度循环9

6.5Corner测试（4-CornorTest）11

6.6数字眼图11

6.7重启测试I（ColdRebootTest）12

7稳定性测试项目13

7.1睡眠/唤醒测试（Sleep/Awake）13

7.2重启测试II（WarmRebootTest）14

7.3Monkey测试(待定)15

7.4频率切换测试（待定）16

7.5压力测试17

7.6Rowhammer测试19

II

T/CESAXXXX—202X

半导体集成电路低功耗双倍数据速率同步动态随机存储器（LPDDR5）

应用场景测试方法

1范围

本文件规定了LPDDR5SDRAM芯片在消费级、工业级和汽车级三种应用场景条件下的测试项、测试条

件，描述了相应的测试方法。

本文件适用于LPDDR5SDRAM产品选型测试。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T2323.63-2019环境试验第2部分:试验方法试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(混合模式)

综合

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分∶试验方法试验A∶低温

GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分∶试验方法试验B∶高温

GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分∶试验方法试验Cab:恒定湿热试验

GB/T2423.4-2008电工电子产品环境试验第2部分∶试验方法试验Db:交变湿热(12h+12h循环)

GB/T2423.50环境试验第2部分:试验方法试验Cy恒定湿热主要用于元件的加速试验

GB/T5170.1-2008电工电子产品环境试验设备检验方法总则

GB/T10586-