X射线测厚影响因素分析、技术进展及其在冶金工业中的应用（下）.docx

第35卷第2期2011年3月

冶金自动化

MetallurgicalIndustryAutomation

Vol.35No.2Mar.2011

·综述与评论·

X射线测厚影响因素分析、技术进展及其

在冶金工业中的应用(下)

马竹梧

(冶金自动化研究设计院，北京100071)

中图分类号：TH744.15文献标志码：A文章编号：1000-7059(2011)02-0001-03

InfluencefactoranalysisandtechnicalprogressofX-raythicknessmeasurementanditsapplicationinmetallurgicalindustry(B)

MAZhu-wu

(AutomationResearchandDesignInstituteofMetallurgicalIndustry,Beijing100071,China)

3典型X射线测厚系统及其在冶金工业

中的应用

国外有许多生产X射线测厚仪的厂家，如英国的Daystrom公司，德国的IMS(工业测量系统)公司，美国的DMC公司、ThermoRadiometrie公司、环球公司，日本的Toshiba(东芝)公司等，他们的产品基本上都是按上两节所述原理和进展以及考虑了影响精度的各种因素(但补正程度不尽相同)而设计的。图6列出了国内用得较多的德国IMS公司的多通道X射线测厚系统作为例子。IMS公

司X射线测厚系统包括以下主要设备：(1)C型架。包括2～6个或更多个测量点(即电离室),高温计(为温度校准提供温度)和带放大器的变送器。(2)水冷循环单元。供密封式C型架二次水冷循环。(3)中央处理单元。包括IMSMEVNET数据管理和处理系统以及X光机控制单元，其中，MEVINET数据管理和处理系统的任务是作为测得数据的评估和处理以及图像化、信号传输与信号通信之用；X光机控制单元的任务是进行C型架的控制及快门控制。(4)控制台。操作员通过

控制台产品数

控制台

产品数据档案

以太网

远程维护/诊断

控制和优化级

用户

检测器(含电离室)

1~4个高压电源1~3个变送器

现场

1~4个X射线管C型架

水冷循环单元-X射线管-C型架

计算机1

计算机2

X光机控制单元

温度测量

计算机室

以太网

MMI

图6IMS公司的X射线测厚基本硬件系统

Fig.6BasichardwaresystemforX-raythicknessmeasurementofIMSCompany

收稿日期：2010-05-20;修改稿收到日期：2010-09-20

作者简介：马竹梧(1931-),男，广东广州人，教授级高级工程师，主要从事冶金自动化方面的研究及应用工作。

2冶金自动化第35卷

单独设计的监控计算机键盘和显示器与测厚系统进行对话。(5)现场操作面板。用以校准和对C型架的操作。(6)连接IMS各设备的电缆和管线。该测厚系统可以采用不同个数的X射线源和检测器，经不同布置而组成不同功能的测厚系统，例如使用一组射线源和检测器来测量板带中心线厚度、使用两组射线源和检测器来测量板带边缘厚度、使用三组射线源和检测器来测量板带中心线

厚度和边缘厚度、使用四组或更多组射线源和检测器来测量板带横向厚度、使用两组发出扇形X光(覆盖带钢宽度)的X射线源和检测器以立体测量方式来测量板带横向厚度和凸度。测厚系统可以测量普钢、MSLA钢、耐磨钢、不锈钢、有色金属等多种板材的厚度和截面、凸度、板形甚至宽度和温度。测厚系统的技术规格见表1。

X射线测厚仪被广泛用于冶金、造纸、平板玻

表1IMS公司的X射线测厚系统主要数据

Table1MainspecificationforX-raythicknessmeasurementsystemofIMSCompany

项目

内容

产品数据

测量范围：160mm最大；C型架间隙：厚度测量时为50~3000mm、断面测量时为100~2600mm;C型架喉深：厚度测量时为350~6.000mm、断面测量时为500~4000mm。

动态数据仪表性能

测量时间常数：1~10m