晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测-编制说明.pdf

国家标准《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》

编制说明

一、工作简况

1、任务来源

根据《国家标准化管理委员会关于下达2023年第四批推荐性国家标准计划及相关标准外文版计

划的通知》要求，《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》国家标准（计划号为Z-339）由常熟阿特斯阳光电力科技有限公司牵头制定，全国太阳光伏能源系统标准化技术

委员会（SAC/TC90）归口管理，任务计划完成时间为2025年。

2、制定背景

光致衰减与再生恢复是光伏行业比较关注的热点。实证基地的研究结果表明，炎热气候条件下的

功率衰减问题不可忽视。此外高功率组件带来更高的组件工作温度，也会加剧LeTID的发生。此前业

界对LID问题认识不足，采用的测试温度较低，该项标准目的在于揭示组件的高温衰减风险。

目前，工业界和学术界对LeTID机理和影响的研究积累了一些实际经验。但是目前国内缺乏统一

的技术规范来指导光伏组件LeTID的测试。各组件厂商在LeTID的管理模式、技术成熟度、资源投

入等方面存在较大差异，质量管理风险不一。此外，不同原理或不同技术参数的LeTID测试方法，使

最终测试结果存在差异，形成一定技术风险。因此随着光伏行业技术的更新，测试标准及关键技术指

标均需要同步调整，这已成为行业面临的共性问题，对于促进产业结构调整，实现行业可持续发展具

有积极意义。

3、主要工作过程

2022年11月，向全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会（SAC/TC90）申请主编IECTS

63342:2022标准转化国家标准，并进行标准背景、技术内容、使用情况预研，形成草案初稿。

2022年12月，修改完善标准草案初稿及其他材料，上交由全国太阳光伏能源系统标准化技术委

员会审查。

2023年2月，标准材料通过审查，于“电子信息技术标准化服务平台”进行立项申报。

2023年3-12月，标准完成立项公示及立项答辩，完成立项流程。

2023年12月，按《国家标准化管理委员会关于下达2023年第四批推荐性国家标准计划及相关

标准外文版计划的通知》要求，《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》国家标准（计

划Z-339）计划正式下达。

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2024年3月，在接到计划任务后，常熟阿特斯阳光电力科技有限公司积极组织内部技术力量组

成标准编制组。于2024年3月在内部召开了沟通会，确定了内部编制组成员及分工。

2024年4月8日，为保证标准制修订项目按时、高质量完成，加强过程管理，经研究，由秘书

处统一组织在北京召开《光伏组件安全鉴定第2部分：测试要求》等38项国家标准启动会暨标准化

知识培训会。

2024年6月28日，由牵头单位召开标准技术研讨会，就标准正文、技术内容进行讨论，根据与

会专的建议修改形成标准草案。

2024年7月31日，由秘书处组织召开国家标准《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验

检测》起草会，根据与会专家的意见和建议进行相应的修改，产出标准征求意见稿。

2024年8月，标准进入征求意见阶段。

二、标准编制原则、主要内容及确定依据

1、编制原则

本标准以科学性、合理性和可行性为原则。

本标准由IECTS63342:2022C-Siphotovoltaic(PV)modules-Lightandelevatedtemperatureinduced

degradation(LETID)test-Detection等同转化编制。

本标准格式依据GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》与

GB/T1.2-2020《标准化工作导则第2部分：以ISO、IEC标准化文件为基础的标准化文件起草规则》

的规则编写。

2、主要内容

本文件规定了地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试，包括术语和定义、仪器装置、样品、

测试步骤、结果处理和报告等内容。本文件适用于地面用晶体硅光伏组件热辅助光致衰减测试方法。

主要技术内容：组件完成硼氧预处理后，将组件置于75℃的环境试验箱中，并用直流电源通以

弱电流，待组件进入复原阶段可停止电注入。检查外观、测试I