相衬成像方法及设备 .pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(10)申请公布号CN101526464A

(43)申请公布日2009.09.09

(21)申请号CN200810101353.5

(22)申请日2008.03.05

(71)申请人清华大学;同方威视技术股份有限公司

地址100084北京市海淀区清华大学

(72)发明人康克军陈志强张丽王迎新赵自然李元景刘以农黄志峰邢宇翔

(74)专利代理机构中科专利商标代理有限责任公司

代理人王波波

(51)Int.CI

G01N21/00

A61B5/00

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

相衬成像方法及设备

(57)摘要

公开了一种通过衍射光栅获得物体

在连续波太赫兹辐射照射下相衬图像的方

法和设备。该方法包括步骤：用相干太赫

兹辐射照射物体以与物体相互作用；使得

与物体作用后的太赫兹辐射照射衍射光

栅；沿衍射光栅波矢方向平移衍射光栅，

以便针对不同的光栅位置，在衍射场内测

量与物体和光栅作用之后的太赫兹辐射的

光强分布；以及根据光强分布恢复出物体

的相衬图像。同现有技术相比，本发明的

方法具有增强弱吸收物质太赫兹成像质量

的本领，本发明的设备具有结构紧凑、操

作简单的优点。

法律状态

法律状态公告日法律状态信息法律状态

权利要求说明书

1、一种利用衍射光栅进行相衬成像的方法，包括步骤：

用太赫兹辐射照射物体以与物体相互作用；

使得与物体作用后的太赫兹辐射照射衍射光栅；

沿衍射光栅波矢方向平移衍射光栅，以便针对不同的光栅位置，在衍射场内测量与

物体和光栅作用之后的太赫兹辐射的光强分布；以及

根据光强分布恢复出物体的相衬图像。

2、如权利要求1所述的方法，其中使得与物体作用后的太赫兹辐射照射衍射光栅

的步骤包括：

用穿过物体后的太赫兹辐射照射衍射光栅。

3、如权利要求1所述的方法，其中使得与物体作用后的太赫兹辐射照射衍射光栅

的步骤包括：

用经物体反射的太赫兹辐射照射衍射光栅。

4、如权利要求1所述的方法，其中，沿衍射光栅波矢方向在一个周期的距离之内

平移衍射光栅，以便对于每一个特定的光栅位置，选择光栅衍射场内衍射条纹明暗

对比度较高的平面测量太赫兹辐射强度分布。

5、如权利要求4所述的方法，其中，用单点式探测器以格栅扫描方式逐点测量太

赫兹辐射强度分布。

6、如权利要求4所述的方法，其中，用面阵式探测器直接测量太赫兹辐射强度分

布。

7、如权利要求1所述的方法，其中所述根据光强分布恢复出物体的相衬图像的步

骤包括：

根据周期性强度图和光栅的衍射特性，恢复出光栅入射场在垂直于入射方向的平面

内的相位分布；以及

根据相位分布构建出物体的相衬图像。

8、一种相衬成像设备，包括：

太赫兹辐射发射器，产生太赫兹辐射，照射物体以与物体相互作用；

衍射光栅，与物体作用后的太赫兹辐射照射该衍射光栅；

太赫兹辐射探测器，针对不同的光栅位置，在衍射场内测量与物体和光栅作用之后

的太赫兹辐射的光强分布；

数据采集和处理系统，根据光强分布恢复出物体的相衬图像。

9、如权利要求8所述的相衬成像设备，还包括：

设置在太赫兹辐射发射器的输出侧的准直部分，用于把太赫兹辐射准直成平行光束。

10、如权利要求9所述的相衬成像设备，所述准直部分是太赫兹透镜或者抛物面镜。

11、如权利要求8所述的相衬成像设备，还包括：

平移装置，用于将光栅沿波矢方向以等间距平移。

12、如权利要求11所述的相衬成像设备，其中平移装置沿衍射光栅波矢方向在一

个周期的距离之内平移衍射光栅，以便对于每一个特定的光栅位置，太赫兹辐射探

测器选择光栅衍射场内衍射条纹明暗对比度较高的平面测量太赫兹辐射强度分布。

13、如权利要求12所述的相衬成像设备，其中所述太赫兹辐射探测器是单点式探

测器，用于以格栅扫描方式逐点测量太赫兹辐射强度分