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》》电子技术
半导体芯片测试成本降低方案
寰鼎集成电路（上海）有限公司李华
【摘要】随着电子产品日新月异的发展，在产品品质提高同时，产品价格的下降也越来越被消费者重视。为了降低电子产品的价格，首先需要降低核心芯片的生产成
本。测试费用是生产成本的重要组成，其中测试平台的成本直接影响测试费用。本文着重叙述如何用低成本测试平台（v50）实现高成本测试平台（J750）的功能，进而
实现测试成本的降低。
电子产品；芯片；测试平台（V50，J750）；成本降低
【关键词】
1.引言低。3.J750和V50测试平台介绍
随着半导体测试技术的不断发展以及2.VQ1710B芯片介绍3.1J750测试平台
对测试成本降低需求的不断提升，各种低成2.1封装管角图（见图1）J750是一款高性能SoC测试平台，可以
本测试平台出现并逐渐取代高成本的测试平2.2主要功能很好的满足各种Soc的测试要求。但是设备
台的功能。本文通过VQ1710B高精度声卡芯支持44.1K/48K/96K/192KHzDAC独立采的成本较高，根据配置不同，价格一般在
片的测试程序开发过程，详细叙述了如何用样率300K-500K美金。其主要特性如下：
低成本测试平台（V50）实现高成本测试平内置高品质耳麦扩音器支持高品质差分512OR1024I/OChannelsconfigura-
台（J750）的功能，进而实现测试成本的降输入CD音频信号tion.
ADC路径中的HPF可切断直流电100MHzfullformatted(unmultiplex-
支持EAPD(ExternalAmplifierPowered)driveandreceive
Down)Independentperpinlevelsandtiming
图1 VQ1710B芯片封装管角图图2 J750 外观图图3 V50 外观图
图4 整体测试方案示意图图5 8channel.v 功能项测试结构图
是三元催化器堵塞或气门、活塞顶面有积面积炭，进行“二清”（即免拆清洗燃油系参考文献
炭。建议驾驶员进行喷油器、进气道、三元统、燃烧室与三元催化器，手工清洗节气门[1]王永军.轿车车载诊断(OBD)系统核心技术研究[D].
吉林大学,2007.
催化器免拆清洗。与进气道）后，清除故障码，此车行车过程[2]陈鲁训,陈萍.第二代随车电脑诊断系统OBDII[J].汽
经过清洗，用VAS5052测试，前氧传感中OBD警告灯点亮，同时出现发动机加速无车技术,1996(9):47-50.
器显示值和以前一样，怠速
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