电磁敏感度测试及性能评估研究 .pdfVIP

电流注入法电磁敏感度测试及性能评估研究

一、研究目的随着各种通信设备、军用雷达等辐射体功率不断加大，频谱

逐渐拓宽，电磁辐射源数量成倍增加，电子系统的电磁环境也日趋复杂。

电子战系统的广泛应用和电磁脉冲武器、高功率微波武器的出现，使有限

空间的电磁环境变得更加恶劣。于是，电子系统在高场强辐射场作用下的

电磁易损性越来越引起人们的重视。传统的辐照式电磁敏感度试验方法在

进行系统安全裕度测试时，很难满足高场强以及电磁环境安全性等方面的

要求，则必须寻求一种新的、简单、经济、有效的测试方法，其中受到人

们特别关注的方法是“电流注入技术”，包括大电流注入（BCI）和直

接电流注入（DCI）。

本项目则重点研究电流注入技术在导弹电磁敏感度测试中的应用问

题，解决电流注入技术与传统辐照技术的等效性问题。对于BCI技术，重

点研究BCI测试的重复性、最高适用频率以及电流注入装置的特殊要求；

对于DCI技术，则重要研究解决“完全回路导体装置DCI（弹体同轴传

输线DCI）”、“接地平板DCI”、和“驱动线间接DCI”的可行性问

题。为了评估整体系统的电磁敏感度，同还需要研究自然防护体的电导率

测试问题，以评价电磁干扰的衰减。

二、研究内容及初步方案

（一）BCI测试技术研究

BCI测试技术的基本原理如图1所示，在应用中可以有两种考

1

虑：一种是用电流耦合钳将电磁干扰电流注入，并监测电缆中的耦合

电流(图1a);二是采用线圈缠绕壳体，并监测壳体的表面电流或壳体

内部场强(图1b)。

本项目重点研究图1b所示方法的可性性及相关应用问题，主

要包括：

(1)注入电流的大小；

(2)线圈的技术要求及理论分析；

(3)壳体表面电流的理论计算及测试方法；

(4)壳体内场强的理论计算及测试分析.

a

(b)

图1大电流注入

(二)DCI测试技术研究

可以参考借鉴采用的DCI测试技术有以下三种：

2

(1)完全回路导体装置DCI(弹体同轴传输线DCI)――通

3

过一个同轴线回路导体装置，将壳体完全置于导体装置中，并成为同轴传

输线的中心导体（如图2）。

外导体导弹

图2弹体同轴传输线DCI

（2）接地平板DCI――在壳体下面使用一个导电平板，这个平

板起一个接地作用，并提供电流注入的接地回路。平板一般是由金属网

构成的。在装置的输入端，馈电同轴电缆的中心导体通过导电锥形板与

机身相连，同轴线的屏蔽层通过另一个导电锥形板与接地平板相连（如

图3）。

图3接地平板DCI

（3）驱动线间接DCI——壳体置于同轴传输线内外导体之间，电

流注入到“驱动线（同轴线内导体）”上，驱动线与壳体轴

线平行，壳体处于浮地状态（如图4）

4

对这三种DCI都需要从理论上分析注入电流与直接辐照方式之间的

等效性，重点是分析壳体表面电流的分布情况；其次是理论分析的基础

上，对试验装置进行合理的设计，包括注入接口阻抗匹配、负载电阻的大