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频率特性测试仪

设计报告

摘要：本设计采用ARM和FPGA相结合的方法实现。由FPGA根据DDS的原理产生步进为10Hz，

范围为100Hz到1MHz的扫频信号。将扫频信号通过被测网络，得到测试信号。将测试信号

经过峰值检波电路，得到峰值电压，经ARMA/D转换做后续处理。将扫频信号和测试信

号分别经过高速比较器，转换为矩形波。再输给FPGA，通过等精度频率计的方法测得，信

号的相移。整个系统由ARM进行控制。

关键词：LPC2132FPGA阻容双T网络峰值检波

一、任务

设计并制作一个频率特性测试系统，包含测试信号源、被测网络、检波及显示三部分。

图1系统总体要求

二、要求

1．基本要求

（1）制作幅频特性测试仪

a、频率范围：100Hz～100kHz；

b、频率步进：10Hz；

c、频率稳定度：10-4；

d、测量精度：5％；

e、能在全频范围和特定频率范围内自动步进测量，可手动预置测量范围及步进频率值；

f、LED显示，频率显示为5位，电压显示为3位，并能打印输出。

（2）制作一被测网络

a、电路型式：阻容双T网络；

b、中心频率：5kHz；

c、带宽：±50Hz；

d、计算出网络的幅频和相频特性，并绘制相位曲线；

e、用所制作的幅频特性测试仪测试自制的被测网络的幅频特性。

2．发挥部分

（1）制作相频特性测试仪

a、频率范围：500Hz～10kHz；

b、相位度数显示：相位值显示为三位，另以一位作符号显示；

c、测量精度：3°。

（2）用示波器显示幅频特性。

（3）在示波器上同时显示幅频和相频特性。

（4）其它。

三、方案比较与选择

根据设计要求，本设计主要包括扫频信号源，被测网络，峰值检波电路和相位检测电

路。

3.1控制系统设计论证与选择

方案一：采用单片机,如AT89C51作为整个系统的控制核心，单片机有其使用简单，控

制方便等特点，但其内存大小有限，无法存储较大的数据量，且其通用I/O引脚较少，无法

实现对较多设备的控制。尤其是单片机的时钟频率有限，对于高速处理不能适用。

按键单片机显示

控制其他部分

方案二：采用ARM作为整个系统的控制核心。ARM的处理速度远远高于单片机，且

内存容量较大，能满足现有的大多数的应用。如LPC2132，他是基于一个支持实时仿真和

嵌入式跟踪的32位ARM7TDMI-SCPU的微控制器，并带有32kB的嵌入的高速Flash存储

器。片内16kB的SRAM使LPC2132为它们提供巨大的缓冲区空间和强大的处理功能。1

个10位8路ADC、1个10位DAC。综上所述，本设计采用方案二使用ARM作为中央主

控核心。

控制其他部分

ARM

按键显示

DAAD

3.2扫频信号源设计方案论证与选择

方案一：采用压控振荡芯片MC1648和变容二极管MV209，外接一个LC谐振回路构

成压控振荡器，通过压控振荡器产生所需的扫频信号。但压控振荡器的输出频率稳定度不高，

不易控制。

方案二：采用专门的DDS芯片，如ADI公司的AD9833，其频率和幅度可以通过编程

改变。只要由微控制器如单片机或ARM等向其写入不同的频率控制字，即可实现宽范围的

扫频信号，且幅度不变。其输出频率的稳定度非常高，且步进值在0.1H