基于zynq+fpga的adc真题测试平台的设计与实现.pdfVIP

第52卷第11期通信技术Vol.52No.11

2019年11月CommunicationsTechnologyNov.2019

文献引用格式：钱宏文，李凯，刘继祥.基于ZYNQ+FPGA的ADC通用测试平台的设计与实现[J].通信技术，

2019，52（11）：2829-2833.

basedonZYNQ+FPGA[J].CommunicationsTechnology,2019,52(11):2829-2833.

doi:10.3969/j.issn.1002-0802.2019.11.043

基于ZYNQ+FPGA的ADC通用测试平台的设计与实现*

钱宏文，李 凯，刘继祥

（中国电子科技集团公司第58研究所，江苏 无锡214035）

摘 要：目前国内的ADC测试系统只针对某一单款或几款ADC芯片进行设计，缺少通用的ADC

测试平台。因此，提出了一种基于ZYNQ+FPGA的ADC通用测试平台，包含ADC可调电源、

数据采集电路及上位机3部分，可以实现对不同电压、不同接口的ADC进行测试。对比芯片厂家

的datasheet文件，最终验证了本测试平台对于高速高精度ADC动态性能参数测试的可行性。

关键词：ADC；LabVIEW；通用；ZYNQ

中图分类号：TP23文献标志码：A文章编号：1002-0802(2019)-11-2829-05

ZYNQ+FPGA

QIANHong-wen,LIKai,LIUJi-xiang

(No.58InstituteofCETC,WuxiJiangsu214035,China)

Abstract: 

testofhigh-speedandhigh-precisionADC.

ADC;LabVIEW;general;ZYNQ

Key words:

0 引 言

Test Equipment，ATE）[1]测试成本高。因此，本

文提出一种相对廉价的ADC通用测试平台。该

芯片测试技术随着集成电路的发展越来越受到

测试平台能够兼容不同电压，且兼容目前主流的

重视，特别是中兴事件以后，国家对国产芯片的研

LVDS、CMOS以及JESD204B共3种接口的ADC。

发力度加大。多种类、大批量高速高精度ADC的

同时，利用LabVIEW开发上位机配置测试平台参数，

指标测试将是一项比较庞大的任务，需要一款ADC

并动态显示测试参数，还支持在线升级ADC测试

通用测试平台快速测试不同种类的ADC。目前，国

程序功能。经过实验，对比测试结果和参考值验证

内的测试平台几乎都是针对单款或几款ADC进行

了测试系统的可行性。

测试，缺乏通用性，而国外的测试平台（Automatic

*收稿日期：2019-07-09；修回日期：2019-10-13Receiveddate:2019-07-09;Reviseddate:2019-10-13