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OTDR原理及操作注意事项

一、OTDR的基本原理

用OTDR可以测试光纤的损耗、接头损耗、故障点位置、光纤

长度、背向散射曲线。

（一）工作原理框图

OTDR的测试结果是通过发射光脉冲到光纤内，然后在OTDR端

口对返回来的光脉冲信息进行分析得到的。当光脉冲在光纤内传输

时，会由于光纤本身的性质、连接器、接合点、弯曲或其它类似的事

件而产生散射、反射。其中一部分的散射和反射就会返回到OTDR中。

返回的有用信息由OTDR的探测器来测量，它们就作为光纤内不同位

置上的时间或曲线片断。

(二)瑞利散射

瑞利散射是指当光信号沿着光纤传输时，遇到不规则的质点时产生的

无规律的散射现象。由于光纤是均匀介质，所以瑞丽散射是时时都在

发生的。瑞利散射光的方向也是随即出现的，各个方向出现的几率相

同。大部分瑞丽散射光将折射入包层后衰减掉，其中与光脉冲传播方

向相反的瑞丽散射光将会沿光纤传输到输入端口。

（三）菲涅尔反射

光在传输过程中通过折射率突变的点将会发生菲涅尔反射，这些突变

的点通常在活动连接器、光纤中的裂痕、气泡和光纤的末端。如果光

垂直于界面入射，反射光功率约为入射光功率的4%。对于一些不是

明显断裂或与光轴成某个角度的光纤末端，反射功率就要小得多。

（四）背向散射曲线

以光纤测试点的距离为横轴，该点的瑞利散射光及菲涅尔反射光沿光

路反向传输后被OTDR测试到的功率值为纵轴的曲线。

二、基本术语

（一）非反射事件

通常，光纤中的熔接点与弯曲点会引起损耗，但不会引起反射。

这两种事件会在背向散射曲线上以一个突然下降的台阶表现出来，台

阶在纵轴上的改变即为该事件的损耗大小。

（二）反射事件

光纤中的活动连接器、光纤中的裂痕、气泡都会引起损耗与反

射。

（三）光纤末端

1、光纤末端平整。

2、光纤末端为粉碎型端面。

三、具体问题

（一）测试参数的选择

1、测试波长

因不同的波长对应不同的光线特性(包括衰减、微弯等)，测试波

长一般遵循与系统传输通信波长相对应的原则，即系统开放1550波

长，则测试波长为1550nm。

1310纳米波长用于短距离通信，1550纳米波长用于长距离通信。

1550波长测试距离更远，1550nm比1310nm光纤对弯曲更

敏感，1550nm比1310nm单位长度衰减更小、1310nm比1550nm

测的熔接或连接器损耗更高。

2、测量范围

最佳测量范围为待测光纤长度1.5～2倍距离之间。

3、脉宽

脉宽越长，动态测量范围越大，测量距离更长，但在OTDR

曲线波形中产生盲区更大；短脉冲注入光平低，但可减小盲区。

脉宽周期通常以ns来表示。

4、平均时间

5、光纤参数

光纤参数的设置包括折射率n和后向散射系数n和后向散射

系数η的设置。

就光纤长度测量而言，折射系数每0.01的偏差会引起7m/km

之多的误差，对于较长的光线段，应采用光缆制造商提供的折射

率值。

6、采样频率

（二）盲区的概念

盲区决定了两个可测特征点的最短距离，有时也称为OTDR

的两点分辨率。

（1）事件盲区

（2）衰减盲区

盲区不仅发生在OTDR前面板的活动连接器上，而且光纤中

的其他活动连接器也可能引起盲区。对于10nm的脉宽，事件盲

区理论可达1m，但实际上为10m左右。

脉宽盲区（m）动态范围（db）

100nm约8220

1um约16425

10um约1112约30