第8章光纤传感器应用分析课件.pptVIP

电吸收调制器原理利用Franz-Keldysh效应效应，工作在调制器材料吸收区边界波长处。当调制器无偏压时，该波长处吸收最小，因而输出光功率最大，处于通状态，或者说输出“1”。随着调制器上电压的增加，调制器对输入光波的吸收边向长波长方向偏移，原来的波长处吸收系数变大，调制器成为断状态，输出功率最小，或者说输出“0LED发光光谱材料吸收率E＝0相对发光强度吸收率波长E＝Emax10101（2）基于压电效应光纤电场传感器利用压电效应测量电场的光纤传感器，即采用压电材料的压电效应与单模光纤的弹光效应相结合的方法。在压电效应中，可以用高分子聚合物(如聚偏二氟乙烯－PVF2)作压电材料，高分子聚合物可作为光纤的包皮与光纤合为一体，只要这种形式的光纤足够长就可以解决耐高压与测量高压的问题。PVF2光纤压电材料光纤马赫—泽德尔电场传感器3dB3dB耦合器耦合器测量臂光源PZT压电材料PVF2的灵敏度较大波长为633nm时，PVF2约有4rad／(V·m)的相移，而普通的压电陶瓷波长为633nm时，约有0.39rad／(V·m)的相移。光源参考臂3dB3dB光纤马赫—泽德尔电场传感器I0耦合器测量臂信号处理器PZTPZT的作用：信号处理器一路反馈到PZT上，使之工作在正交点，并对因温度变化引发的干扰因素进行补偿。压电材料放大8.3光纤压力传感器光纤压力传感器一般是利用膜片受压弯曲使反射表面发生弯曲的原理制成的。还可以利用固定在膜片上的可动反射体，使反射光通量重新分布的原理而制成1Y形光纤束2壳片3膜片利用弹性体的受压变形，将压力信号转换成位移信号，从而对光强进行调制。在Y形光纤束前端放置一感压膜片，膜片在小挠度工作情况，其中心位移与所受压力成正比。当压力增加时，光纤与膜片之间的距离将线性地减小。这样，光纤接收的反射光强度将随压力增加而减小，从而使输出光强受到调制。（1）膜片反射式光纤压力传感器压力传感器的重要传感元件是法布里-珀罗(FP)型光学干涉仪。干涉仪的两面镜子分别是位于一端的薄膜内表面和位于另一端的光纤尖端。所施加的压力P引起了薄膜的偏移，而此偏移又直接引起了F－P干涉仪腔长度的变化。（2）F-P压力传感器另一种是通过电子束蒸发的方法，使薄膜直接沉积在裸光纤上，其薄膜厚度在的范围内0.6~2?m。例如在80?m芯径的光纤上可沉积1.5?m厚的镍被覆层。光纤沉积被覆层后要进行退火，消除磁场伸缩护层材料中的残余应变。裸光纤沉积镍薄膜几种敏感元件的基本结构光纤被覆材料a)被覆式b)心轴式磁致伸缩材料光纤磁致伸缩材料光纤c)带式1、金属被覆单模光纤电流传感器这种传感器是根据被测电流流过金属护套光纤时产生电阻热效应对光纤进行加热而改变通过光纤中光的相位，从而实现电流检测的。若把被覆光纤作为马赫—泽德尔光纤干涉仪的测量臀，则被覆光纤由于温度升高，其长度和折射率发生变化，从而改变了干涉仪两臂的两束光的相位差。8.2.3光纤电流传感器马赫—泽德尔干涉仪电流传感器原理金属护套光纤的轴向尺寸和折射率随电流的强弱而变化光纤马赫—泽德尔电流传感器3dB3dB耦合器耦合器测量臂光源PZT金属护套光源参考臂3dB3dB光纤马赫—泽德尔电流传感器I0耦合器测量臂信号处理器PZTPZT的作用：信号处理器一路反馈到PZT上，使之工作在正交点，并对因温度变化引发的干扰因素进行补偿。放大（2）基于磁致伸缩效应光纤电流传感器利用磁致伸缩材料被覆的单模保偏光纤作为马赫—泽德尔干涉仪的测量臂。当被测电流流过线圈时，将产生磁场并作用在磁致伸缩材料上，产生磁致伸缩效应，引起光纤发生形变，从而使干涉仪的两个臂的光相位差发生变化，通过测量相位差的大小就可以测量电流的大小。传感器测量臂光纤磁致伸缩材料电流源光源参考臂3dB3dB金属被覆光纤马赫—泽德尔电流传感器I0耦合器信号处理器PZTPZT的作用：信号处理器一路反馈到PZT上，使之工作在正交点，并对因温度变化引发的干扰因素进行补偿。放大作为干涉腔的光纤缠绕在铁镍合金筒（磁致伸缩材料）上，使干涉腔光纤感测外加磁场，光波的相位受到调制。一个偏置磁场作用于传感头，并通过调整其参数使干涉仪工作在最佳的线性点。最后，检测到的电信号依次经过带通滤波器及放大电路，然后与依次经过光探测器及放大电路的参考电信号同时通过一个除法器电路，以减小了光路噪声和电路噪声的影响。由除法器电路输出一个电压信号，此电压信号与外加磁场的对应关系也相应的建立起来。?λB(