《半导体检测与分析》期末考试复习题库（含答案）.docxVIP

《半导体检测与分析》期末考试复习题库（含答案）.docx

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《半导体检测与分析》期末考试复习题库（含答案）

一、单选题

1.加速因子AFT定义为基底温度T0处的失效时间与提高温度T1处的时间比值。如果在基底温度T0下，某器件的失效时间为1000小时，在提高温度T1下，该器件的失效时间为100小时，则加速因子AFT是多少？

A、10

B、100

C、0.1

D、0.01

答案：A

解析：根据加速因子AFT的定义，AFT=T0失效时间/T1失效时间=1000小时/100小时=10。

2.在半导体器件的可靠性分析中，对数正态分布常用于描述哪种现象？

A、器件的初始性能参数

B、器件在长时间工作后的失效统计

C、器件的制造过程中

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