【英语版】国际标准 ISO 5442:1980 EN 工业用六氟硅酸钠 硫化合物含量的测定 还原后碘量测定法 Sodium hexafluorosilicate for industrial use — Determination of sulphur compounds content — Iodometric method after reduction.pdf

ISO5442:1980工业用六氟化硅中硫化合物的测定-碘量法还原标准概述：

ISO5442:1980是工业用六氟化硅中硫化合物的测定标准，它规定了使用碘量法测定硫化合物的含量。这种方法首先通过还原步骤将硫化物还原为可测定的硫原子，然后再使用碘量法进行测定。

碘量法是一种常用的化学分析方法，通过利用碘和硫原子之间的反应来测定硫含量。在此标准中，它特别适用于测定含硫化合物含量较高的工业材料和产品。这种方法通常在化学分析实验室中使用，并需要使用适当的试剂和设备。

该标准的主要目的是提供一种可靠、准确的方法来测定工业用六氟化硅中硫化合物的含量。通过遵循该标准，实验室可以确保测定的准确性，并确保所使用的六氟化硅符合相关法规和标准要求。

ISO5442:1980标准规定了使用碘量法测定工业用六氟化硅中硫化合物的含量，适用于需要精确测量含硫化合物较高的工业材料和产品的实验室。这种方法需要适当的试剂和设备，并遵循标准的操作步骤以确保准确性和可靠性。