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《纳米银浆低温快速烧结机理及其接头性能研究》.docx

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《纳米银浆低温快速烧结机理及其接头性能研究》

摘要

本文旨在探讨纳米银浆低温快速烧结的机理,并对其接头性能进行深入研究。通过分析纳米银浆的烧结过程、烧结机理以及接头性能的评估方法,为纳米银浆在电子封装、微电子互连等领域的应用提供理论依据和实验支持。

一、引言

随着微电子技术的快速发展,纳米银浆因其优异的导电性和良好的粘附性,在电子封装、微电子互连等领域得到广泛应用。低温快速烧结技术可以有效地提高纳米银浆的烧结速度和接头的机械性能,对促进纳米银浆的应用具有重要意义。因此,研究纳米银浆低温快速烧结的机理及其接头性能具有较高的学术价值和应用价值。

二、纳米银浆低温快速烧结的机理

1.烧结过程概述

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