【英语版】国际标准 ISO 5459:1981 EN Technical drawings — Geometrical tolerancing — Datums and datum-systems for geometrical tolerances 技术制图 几何公差 几何公差的基准和基准系统.pdf

ISO5459:1981是关于技术图纸几何公差测量的标准，具体包括以下内容：

基准和基准系统在几何公差中的使用和选择非常重要。ISO5459详细介绍了如何确定和控制这些基准系统，以确保产品符合设计要求。该标准提供了以下详细解释：

1.**基准和基准系统**：基准是用于确定产品几何形状或尺寸的点、线或面。基准系统是用来定义这些基准的集合。

2.**基本参照系统**：基本参照系统是最常用的基准系统，它包括一个或多个单一的基准。基本参照系统通常用于确定产品上的几何特征。

3.**附加参照系统**：附加参照系统是由一组相关的基准组成的系统，这些基准用于确定几何特征的位置和方向。这些基准可能基于不同的基准轴线或表面。

4.**公共参照系统**：公共参照系统是用于两个或更多零件之间几何尺寸和位置比较的系统。这些零件可以是相同类型的零件，也可以是不同类型的零件，如组件或部件。

5.**坐标系**：坐标系是用于确定位置和方向的基准系统。它包括X、Y和Z轴，以及在每个轴上的零点或原点。

6.**极坐标**：极坐标是用于描述表面形状的基准系统，它包括一个中心点和一个角度。这个系统用于圆柱形和其他非平面表面的描述。

在这个标准中，还讨论了如何使用测量设备来确定产品的尺寸和位置是否符合设计要求，以及如何选择和使用合适的测量方法。该标准还提供了关于如何处理测量误差和如何解释测量结果的信息。

以上是对ISO5459:1981标准的详细解释，希望对你有所帮助。