【英语版】国际标准 ISO 9220:1988 EN 金属涂层 涂层厚度测量 扫描电子显微镜法 Metallic coatings — Measurement of coating thickness — Scanning electron microscope method.pdf

ISO9220:1988ENMetalliccoatings—测量涂层厚度—扫描电子显微镜方法

ISO9220:1988是关于金属涂层厚度测量的国际标准，其中详细说明了使用扫描电子显微镜（SEM）的方法。

以下是该标准的详细解释：

1.**标准范围和适用性**：该标准适用于各种金属涂层的厚度测量，包括但不限于金属涂层的厚度测量。

2.**设备要求**：该标准要求使用具有高分辨率和高放大倍数的扫描电子显微镜（SEM），并配备适当的电子束测厚仪。

3.**样品准备**：样品应清洁并干燥，表面应平整以便于SEM观察。必要时，可以使用适当的衬底材料进行比较。

4.**测量方法**：该标准详细说明了SEM测厚仪的操作步骤，包括设置仪器参数、准备样品、对样品进行扫描、数据处理和结果报告等。

5.**误差分析**：该标准提供了误差分析方法，包括测量重复性、环境因素和SEM系统误差等因素的影响。

6.**标准参考**：该标准还提供了与涂层厚度测量相关的参考材料和方法，包括各种金属涂层的性质和SEM图像的分析技巧等。

7.**安全注意事项**：该标准强调了使用SEM进行涂层厚度测量的安全注意事项，包括防止电击、保持仪器清洁和维护保养等。

ISO9220:1988ENMetalliccoatings—Measurementofcoatingthickness—Scanningelectronmicroscopemethod是一个详细描述使用扫描电子显微镜（SEM）测量金属涂层厚度的国际标准，涵盖了设备要求、样品准备、测量方法、误差分析、标准参考和安全注意事项等方面。