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EN473NDT—VT内部培训资料

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1.1检测方法概述

1.1.1无损检测概述

1.1.2无损检测相关标准

1.1.1无损检测概述

无损检测技术作为一种综合性应用学科，是在不破坏或损伤被检对象的前提下，以物理或化学方法为手段，利用先进的技术和设备器材，来探测各种材料和部件的内部和表面缺陷，以及几何特性测量、组织结构和力学性能变化的评定等，并对所获得的各种技术参数作出相应的判定，从而达到保证被检材料和部件的可靠性的目的。

无损检测技术一般分无损探伤(NDI),无损检测(NDT),无损评价(NDE)三个发展阶段。其中NDI只是探测和发现缺陷；而NDT不光检出缺陷，还探测试件结构、状态等方面的一些信息；NDE则是在NDT的检测基础上，对缺陷的形状、尺寸、位置、应力状态等信息，通过计算机数据分析和处理，结合材料力学和断裂力学等综合知识，对试件的质量进行准确的评价。现阶段正由NDT向NDE过渡。

目前，常见的无损检测方法有外观检测(VT)、射线检测(RT)、超声检测(UT)、渗透检测(PT)、磁粉检测(MT)、涡流检测(ET)。除了以上方法，近年来，随着现代物理学、材料、微电子、计算机技术的不断发展，无损检测技术也随之迅猛发展，又有声发射、工业CT、金属磁记忆、红外热成像、应力测试等70余种无损检测方法，在石油化工、航空航天、轨道车辆、电站设备、锅炉压力容器、建筑、冶金等工业领域得到了广泛应用。

表1.1-1无损检测方法符号

无损检测方法

外观检测

射线检测

超声检测

磁粉检测

渗透检测

涡流检测

密封检测

符号

YT

RT

DT

MT

PT

ET

LT

表1.1-2各种无损检测方法

检测方法

设备

原理

优点

局限性

适用对象

外观检测

放大镜，直尺、焊缝尺、干分尺、

塞尺、内窥镜及光源等

通过肉眼或肉眼与光学仪器相结合，来观察被检部件的表面状态，以确定是否存在缺陷

简单、快速、经济、设备少

只能检测材料和部

件表面损伤，要求检验员视力好，当缺陷很小时，易漏检

检测材料或部件表面缺陷和尺寸偏差

透检测

荧光或着色渗透剂、显像剂、清洗剂及清洗装置、标准试块等荧光渗透探伤

则需紫外线灯

利用毛细作用将带有颜色的渗透液喷涂在焊缝表面上，使其渗入缺陷内，清洗后施加显像剂显示缺陷彩色痕迹

适于各种金属和

非金属材料，设备轻便，投入小，操作简便，缺陷性质容易辨认

不适用于疏松多孔

性材料，对环境温度要求高，探伤前后必须清沽焊缝表面，难以确定缺陷的深度

可检表面开口缺陷

粉检测

磁粉探伤机、电源、磁粉、试片(块)等

荧光磁粉探伤则需紫外线灯

经磁化的焊缝，利用缺陷部位的漏磁通可吸附磁粉的现象，从面形成缺陷痕迹显示

经济简便，快速直观，缺陷性质容易辨认。油漆与镀层基本不影响检验灵敏度，但应做灵敏测试

不适用于非铁磁性

材料，难以确定缺陷深度，某些部件要求探伤后退磁

可检表面与近表面缺陷

射线检测

射线源、电源、暗盒、胶片、胶片处理设备、观片灯、射线剂量装置等

利用阴极灯丝产生的电子高速轰击靶所产生的电磁波来穿透工件，完好部位与缺陷部位透过剂量有差异，从面在底片上形成缺陷影像

可得到直观长久

的影像记录，功率可调，照相质量一般比

r射线高

一次投入大，不易携带，需电源，无法测量缺陷的深度，焊缝须双面接近，不易发现裂纹和未熔合缺陷

适用于检出夹

渣、气孔、未焊透等体积型的缺陷。对与射线方向相一致的面积型缺

陷有较高检出率

射线检测

y源、暗盒、胶片、胶片处理设备、观片灯、辐射监控设备等

利用放射性物质在衰变过程中产生的电磁波来穿透工件，完好部位与缺陷部位透过剂量有差异，从而在底片上形成缺陷影像

工作效率高，可定

位于管道或容器内

部一次像，可得到直

观长久的影像记录

放射性危险大，射线源要定期更换，能量不可调节，成本高，一般无法测量缺陷的深度，焊缝须双面接近

最适用于检出厚壁体积型缺陷

超检测

超声波检测仪、探头、耦合剂、试块等

利用弹性波遇到缺陷会形成反射或衍射的原理，来获取缺陷信号，并在示波屏上显示出来

对面状缺陷敏感，穿透力强，易携带，对操作人员无损害

焊缝只须单面靠

近，检测时间短，成本饦

对被检工件表面状

态要求高，不易测出细小裂纹，对检测人员素质要求高，不适用于形

状复杂和表面粗糙的工件，对被检工件的厚度及材料有要