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贵金属化验分析方法

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贵金属化验分析方法

贵金属化验分析方法

贵金属是指金、银及铂族金属(铂、钯、铑、铱、钌)等八个金属元素。虽然金及银等金属的利用历史悠久,但由于成本高、物理化学性能特殊,不易制备,长期以来统称为贵金属。然而在一些场合下,例如考虑制造成本的时候,铅、汞、锡等也可纳入贵金属的范畴。另外还有以钴为代表的硬质合金基体金属,从其材料本身价值到废弃钴硬质合金产品的再生价值也远远大于“贵金属”的定义。但为讨论贵金属的性质和成分而制定专门的检测方案成本高、实施难度大而逐渐不被采用。以下为大家提供贵金属化验分析的一些主要方法:

一、火花放电原子化法(FLASHAAS)

该法可用于检测多元素。具有分析速度快,取样量少,测定元素间干扰小等优点。它的基本原理是:用高压电场产生辉光放电使被测元素从溶液中解离并激发到高能态,当电子在返回低能态过程中发射光子,产生的光子通过光电倍增管转换成电子流,经放大后即可在光谱仪上读出各元素的荧光强度而进行定量分析。

二、原子荧光光谱法(AFS)

原子荧光光谱法(AFS)主要用于测定金和银。原子荧光光谱法是发射光谱的一种特殊形式,元素被激发后产生的原子气体(主要是原子蒸气)会发射出特征辐射,这些辐射被检测并用来测量相应元素的含量。对于低含量测定有较高的灵敏度,而且方法简便快速。本法对样品处理过程要求不严格,同时避免了化学分解可能带来的误差。因此该方法适用于各种样品的测定。原子荧光分析的荧光性质取决于元素的光谱线和原子蒸汽的猝熄特性。例如铜和铝的特征辐射在紫外和可见区的光谱区几乎完全覆盖,难以分离且激发压力差不大时在特定条件下产生共振的荧光峰强度较低时也可以采用原子荧光光谱法测定。

三、X射线荧光光谱法(XRF)

XRF是分析贵金属最常用的方法之一,尤其适用于现场分析。它具有分析速度快,多元素同时测定,操作简便以及可同时测定多种元素等优点。XRF测定的是样品对X射线的散射和反射,因此测定的是元素的总量而不是元素的化学形态,形态分析应采用其他方法。XRF法测定贵金属的原理是利用X射线衍射样品中的待测元素,产生元素的特征X射线,测量其波长和强度以确定元素的含量。

四、等离子体发射光谱法(ICP-AES)

ICP-AES是以氩气为等离子体传输气所形成的弧焰作为光源来发射各种元素的特征谱线,对样品进行原子化由光电效应或热发射产生光谱,根据辐射强度及特征谱线波长来确定元素的种类及其含量的一种直读分析方法。ICP-AES具有精密度高、准确度高、分析速度快以及样品用量小等优点,适合于多种溶液形式(固体、液体等)及各种基体的测定。同时对所测元素具有“完全包围”的优越条件。对于高频感应产生的高温使熔剂及载体气体逸散,能保证良好的检出性能及背景扣除,使分析结果更准确可靠。由于ICP-AES具有的优良性能而成为现场快速分析最佳方法之一。

以上就是贵金属化验分析的一些主要方法,希望能对您有所帮助!

贵金属化验分析方法

贵金属化验分析是一项重要的工作,它涉及到贵金属的检测、提取和鉴定。本文将详细介绍贵金属化验分析方法,包括样品前处理、贵金属提取、仪器分析、数据处理等方面,以期为贵金属化验分析工作提供参考和指导。

一、样品前处理

在进行贵金属化验分析之前,需要对样品进行前处理,包括样品的破碎、研磨、筛分和纯化等步骤。其中,破碎是将样品破碎成适合分析的小块;研磨是将破碎后的样品进一步研磨成细小的颗粒;筛分是将研磨后的样品按照粒度进行分类,分离出不同粒度的颗粒;纯化则是为了去除样品中的杂质,提高贵金属的纯度。

在样品前处理过程中,需要注意以下几点:

1.样品来源要可靠,避免引入污染和误差;

2.破碎和研磨时要保证样品均匀性,避免出现局部过细或过粗的情况;

3.筛分和纯化时要严格按照操作规程进行,确保样品质量和数据的准确性。

二、贵金属提取

在样品前处理完成后,需要对贵金属进行提取。常用的贵金属提取方法包括酸溶法、碱溶法、萃取法等。其中,酸溶法适用于提取金、银等贵金属;碱溶法适用于提取铂族金属;萃取法适用于提取微量贵金属。在提取过程中,需要注意以下几点:

1.提取方法的选择要根据样品的性质和贵金属的含量来确定;

2.提取时要控制好酸碱度、温度、时间等参数,确保贵金属能够充分溶解;

3.提取完成后要过滤、洗涤、烘干等操作,确保贵金属的纯度和质量。

三、仪器分析

贵金属化验分析中常用的仪器分析方法包括原子光谱分析、电感耦合等离子体原子发射光谱分析、原子荧光光谱分析等。这些方法具有灵敏度高、分析速度快、精度高等优点。在仪器分析过程中,需要注意以下几点:

1.要根据样品的性质和要求选择合适的仪器和方法;

2.要对仪器进行定期校准和维护,确保仪器的准确性和稳定性;

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