半导体设备置信限系数、集群设备RAM的测量、可靠性增长或退化模型.pdfVIP

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附录A

（规范性）

置信限系数

A.1简介

本附录提供与第7章有关的详细信息。

在本附录的所有计算中都可以用E-MTBFp代替MTBFp。

用表A.1和表A.2中的系数乘以MTBFp点估计值可获得置信的上限和下限值。表A.1

适用于一般情况，即在规定时间内对设备进行测试，事先不知道将要发生的失效数（时间统

计数据）。另一种方法是统计失效的数据，即事先规定失效次数，观察设备直到出现该次数

的失效为止。表A.3给出了统计失效数据的下限系数。由于统计失效数据很少出现在工具或

设备的可靠性测量中，因此收录表A.3仅是为了完整性。表A.2给出的上限系数同时适用于

这两种方法。

表A.4可以用于设计设备的评估或认证试验，用以证明在给定的置信水平下，设备的

MTBFp符合要求。为了使用表A.4，必须首先选择一个在试验期间可能观察到的，而且仍

符合要求的MTBFp目标的最大失效数r。

A.1.1用定时截尾数据来计算置信上限和下限系数

以下是用表A.1和表A.2的定时截尾数据来计算置信上限和下限系数的公式：

ᆈ⨲下限ᆈ⨲

ᾀ；െ

ᆈ⨲上限ᆈ⨲

；

式中：

r——失效数。

在上述情况下，置信水平为100×（1－），MTBFp的真值落在MTBF下限之上，MTBF

2

上限之下，并采用X分布表。

A.1.2零失效时的公式

对于零失效，使用下面的公式：

生产时间

ᆈ⨲下限＝

－

表A.1的第一行给出了当出现零失效时，上面的公式可以使用的系数。

A.1.3定数截尾数据计算下限系数

对于失效检验试验，MTBF上限与定时截尾试验数量相同，但是表A.3中的下限系数是：

ᆈ⨲下限ᆈ⨲

；െ

表A.1MTBFp单侧置信下限的边界系数（定时截尾数据或周期检验数据或定时间长度试验）

MTBFpMCBF

在已知的置信水平下，用时间或周期数的检查数据乘以或的估计值，得到边界下限。

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