《芯片测试管理系统技术规范》征求意见稿.docx

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T/EJCCCSEXXX-XXXX

芯片测试管理系统技术规范

1范围

本文件规定了芯片测试管理系统的系统架构、功能组成、数据管理、技术要求、测试与验证、运维与升级的要求。

本文件适用于芯片测试中运用的测试管理系统的全流程设计、测试、使用、运维及升级。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

SJ/T11399-2009半导体发光二极管芯片测试方法

YD/T1886-2015移动终端芯片安全技术要求和测试方法

3术语和定义

SJ/T11399-2009、YD/T1886-2015界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1

芯片测试Chiptest

指对集成电路芯片的电气特性、功能特性、性能指标以及可靠性等方面进行检测、验证和评估的过程，包括晶圆测试（CP，CircuitProbing）、成品测试（FT，FinalTest）以及各种可靠性测试等。3.2

芯片测试管理系统Chiptestmanagementsystem

一种用于对芯片测试流程进行全面管理和控制的软件系统，涵盖测试计划制定、测试资源调配、测试任务执行、测试数据采集与分析、测试报告生成以及