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一、引言
1.1研究背景与意义
在当今科技飞速发展的时代,电子和光电子领域不断涌现出创新的材料与技术,为众多前沿应用带来了新的机遇。p-CuI薄膜作为一种本征p型宽禁带半导体材料,凭借其独特的物理性质,在电子和光电子器件中展现出了巨大的应用潜力。
p-CuI薄膜具有诸多优异特性,使其成为科研人员关注的焦点。其空穴迁移率较高,这一特性使得在电子传输过程中,空穴能够高效地移动,从而为实现高速、低功耗的电子器件提供了可能。在集成电路中,较高的空穴迁移率有助于提高芯片的运行速度,降低能耗,满足电子产品日益轻薄化、高性能化的需求。组成p-CuI薄膜的元素无毒且储量丰富,这不仅符合绿色环保的
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