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统计过程控制(SPC);一、统计过程控制概述

二、控制图基础

三、计量型控制图应用

四、过程能力和性能研究

五、设备能力研究

六、其他类型计量型控制图应用

七、计数型控制图应用

八、控制图应用风险

;统计过程控制(SPC);工业革命以后，随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。

1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。;5;1、确保制程持续稳定、可预测。

2、提高产品质量、生产能力、降低成本。

3、为制程分析提供依据。

4、区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。;名称;名称;名称;10;11;12;13;;15;16;统计过程控制(SPC);18;19;工序处于稳定状态下，其分布通常符合正态分布。由正态分布的性质可知：产品质量特性数据出现在平均值的正负三个标准偏差(μ?3?)之外的概率仅为0.27%。这是一个很小的概率，根据概率论“视小概率事件为实际上不可能事件”的原理，可以判定：出现在μ?3?区间外的事件是异常波动，它的发生是由于特殊原因使总体的分布偏离了正常位置。

根据这一原理，将控制限的宽度设定为?3?。

;21;22;23;

计量型数据;确定要使用控制图的特性;26;统计过程控制(SPC);28;29;30;31;每小时产量;33;34;35;均值的计算：;37;38;39;40;41;在均值图上画出中心线（过程平均值）和上、下控制限（UCLXbar、LCLXbar）；

将极差图上画出中心线（极差平均值）和上、下控制限（UCLR、LCLR）；

中心线画成黑色水平实线；

控制限画成红色水平虚线。

;43;44;超出控制界限的点：

出现一个或更多点超出任何一个控制界限是那一点的特殊原因导致变差的主要证据。在那一点之前可能已经发生了特殊原因。;46;47;48;49;50;51;52;53;在进行初次过程研究或重新评定过程能力时，不受控的特殊原因已被识别和消除或制度化，然后应重???计算控制限，以排除不受控时期的影响；

排除所有受已被识别和消除或制度化的特殊原因影响的子组，然后重新计算新的中心线和控制限，并在图中绘出；

确保当与新的控制限相比时，两个图都没有不受控的情况。如果不是，则重复识别特殊原因/纠正/重新计算的过程。;由于识别为特殊原因而从R图中去掉的子组，也应该从Xbar图中去掉。修订后的R、Ｘ用于重新计算控制限。;56;典型特殊原因识别准则的汇总;典型特殊原因识别准则应用注意事项：;59;60;61;62;63;“三立即”原则：

操作者或现场管理者根据规定的取样频率和样本容量抽取样本组、立即计算Xbar和R并将其画在控制图中并与前点用短直线连接；

立即应用特殊原因识别准则判定制造过程是否存在特殊原因；

如制造过程存在特殊的原因，操作着或现场管理者应立即分析不受控特殊原因并采取措施确保制造过程恢复到受控状态。;子组编号;66;统计过程控制(SPC);68;69;70;71;72;73;74;75;材料经热处理后其硬度公差要求为57±2HRC，现有一批材料经抽样得其硬度的过程分布和能力为Xbar±3σ=57.4±1.40，请计算Cp以及过程能力指数Cpk分别为多少？;77;78;79;80;81;材料经热处理后其硬度规格要求为57±2HRC，现有一批材料经抽样得其硬度的过程分布和性能为Xbar±3σ=57.4±1.35，请计算Pp以及过程能力指数Ppk分别为多少？;83;84;85;86;87;统计过程控制(SPC);根据美国工业界的经验，长期的过程变差的７５％来自设备变差。

设备能力指数Ｃmk表示仅由设备普通原因变差决定的能力，与公差和生产设备的加工变差有关，设备能力指数只考虑短期的变差，尽可能排除对过程有影响而与设备无关的因素。;设备能力研究：连续50件产品，排除3M1E，将设备/模具/检具/调整装置视为一个整体；

过程能力研究：至少25个子组，每个子组内4-6件产品，尽量包括4M1E。;进行设备能力研究的时机：

新的设备/模具；

新产品；

设备/模具维修后（对产品有影响）；

设备搬迁后；

公差缩紧；

长期停产后；

产品不合格追查原因时；

加工过程/输出状态更改等。;计算Cmk：

1、连续取样50件产品；

2、连续取样过程中，不变更工艺参数、材料、作业人员、环境；

3、估计设备变差；

4、计算Cm、Cmk；

5、分析和改进（必要时）。;93;;统计过程控制(