T_HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹(Mura)缺陷量化方法.docx

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团体标准

T/HBAI001-2024

有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法

Organiclightemittingdiodedisplays–QuantitativeevaluationmethodsofsurfaceMura

2024-10-17发布2024-10-25实施

湖北省人工智能学会发布

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目录

前言 -4-

有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法 -5-

1.范围 -5-

2.规范性引用文件 -5-

3.术语和定义 -5-

4.略缩语 -6-

5.主观实验方法 -6-

5.1概述 -6-

5.2量化因素 -7-

5.3限度样本选取实验 -8-

5.4双刺激度对照实验 -8-

6.多因素量化公式 -8-

6.1概述 -8-

6.2量化公式分析 -8-

6.3结果表示 -11-

7.量化神经网络 -11-

7.1概述 -11-

7.2后台业务系统 -12-

8.量化结果验证 -13-

8.1概述 -13-

8.2评价指标 -13-

8.3验证结果 -13-

8.4对比实验结果 -14-

附录A -15-

A.1概述 -15-

A.2Mura缺陷类型 -15-

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B.1概述 -16-

B.2灰度值排序 -17-

B.3双刺激度对照实验流程 -17-

附录C（规范性附录）神经网络量化算法 -19-

C.1神经网络量化算法流程 -19-

C.2神经网络量化算法推荐使用参数 -20-

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前言

本标准按照GB/T1.1-2020给出的规则起草。

请注意本部分的某些内容可能涉及专利,本部分的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本标准由湖北省人工智能学会归口。

本标准主要起草单位：华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数字化设计与制造创新中心有限公司。

本标准主要起草人：杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、刘洒、林松、陈若愚。

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有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法

1.范围

本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。

本文件主要适用于有机发光二极管显示器。

2.规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T20871.2-2007有机发光二极管显示器第2部分：术语与文字符号

GB/T20871.61-2013有机发光二极管显示器第6-1部分：光学和光电参数测试方法T-339有机发光二极管显示器件第6-2部分：测试方法——视觉质量和亮室性能

GB/T20871.63-2021有机发光二极管显示器件第6-3部分：图像质量测试方法

3.术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

5.2.1主观量化实验

实验人员在一定条件下通过自己的主观感受对缺陷等级做出判断的实验。

5.2.2目视检查

通过人眼观察显示器上的缺陷来进行缺陷等级评估的方法。

5.2.3限度样本

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用于判定某一无法量化的质量特性的参考标准。

5.2.4云纹缺陷

显示器局部的细微亮度或颜色变化区域。

5.2.5线缺陷

显示器上可被观察到的平行于一行或列的水平或竖直的亮线或暗线缺陷。

5.2.6点缺陷

显示器件上可被观察到的局部亮度轻微偏暗或偏亮的区域。

5.2.7划痕缺陷

显示为单条或多条线或条状的缺陷，一般在暗背景下较明显。

5.2.8对比度

显示器件中明暗区域最亮的白和最暗的黑之间不同亮度层级。

5.2.9亮度云纹缺陷

除像素缺陷外，亮度与显示器件的背景不同的部分。

5.2.10色度云纹缺陷

除像素缺陷外，色度与显示器件的背景不同的部分。

4.略缩语

下列略缩语适用于本文件。

SEMI国际半导体产业协会(Semiconducto