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智能芯片设计过程中的测试技术综述
目录
智能芯片设计概述．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．3
1.1智能芯片的定义与发展趋势．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．3
1.2智能芯片设计的关键技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4
智能芯片设计过程中的测试技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．5
2.1测试技术在芯片设计中的重要性．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．6
2.2测试技术分类．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．6
仿真测试技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．7
3.1逻辑仿真测试．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．7
3.1.1模拟电路仿真．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．8
3.1.2数字电路仿真．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．9
3.2信号完整性仿真．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．10
3.3功耗分析仿真．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．11
验证测试技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．12
4.1设计验证．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．13
4.1.1功能验证．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．14
4.1.2性能验证．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．15
4.1.3安全性验证．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．16
4.2集成验证．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．17
4.2.1硬件描述语言仿真．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．18
4.2.2逻辑综合验证．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．19
4.3系统验证．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．20
4.3.1系统级仿真．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．20
4.3.2硬件在环测试．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．21
硬件测试技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．22
5.1芯片级测试．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．23
5.1.1芯片内测试．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．24
5.1.2封装级测试．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．25
5.2系统级测试．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．26
5.2.1板级测试．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．27
5.2.2系统级测试平台．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．28
测试工具与平台．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．29
6.1仿真工具．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．30
6.1.1逻辑仿真工具．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．31
6.1.2信号完整性分析工具．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．32
6.2测试平台．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．33
6.2.1芯片测试平台．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．34
6.2.2系统测试平台．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．
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