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2024年大学专业课考试资料:半导体物理学知识点归纳 .pdf

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2024年大学专业课考试资料:半导体物理学知识点归纳

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大学专业课考试复习资料-•半导体物理学(刘恩科)详细归纳

总结

第一章、半导体中的电子状态习题

1・1、什么叫本征激发?温度越高,本征激发的载流子越多,为什么?试定性说

明之。

1・2、试定性说明Ge、Si的禁带宽度具有负温度系数的原因。

31-、试指出空穴的主要特征。

1.4、简述Ge、Si和GaAS的能带结构的主要特征。

1.5、某一维晶体的电子能带为

E(k)=£*()[1-0.Icos(如)-0.3sin(A〃)]

其中Eo=3eV,晶格常数a=5xl0m。求:

(1)能带宽度;

(2)能带底和能带顶的有效质量。

题解:

1.1、解:在一定温度下,价带电子获得足够的能量(NEQ被激发到导带成

为导电电子的过程就是本征激发。其结果是在半导体中出现成对的电子・

空穴对。如果温度升高,则禁带宽度变窄,跃迁所需的能量变小,将会有

更多的电子被激发到导带中。

1・2、解:电子的共有化运动导致孤立原子的能级形成能带,即允带和禁带。温

度升高,则电子的共有化运动加剧,导致允带进一步分裂、变宽;允带变

宽,则导致允带与允带之间的禁带相对变窄。反之,温度降低,将导致禁

带变宽。因此,Ge、Si的禁带宽度具有负温度系数。

1・3、解:空穴是未被电子占据的空量子态,被用来描述半满带中的大量电子的

集体运动状态,是准粒子。主要特征如下:

A、荷正电:+q;

B、空穴浓度表示为p(电子浓度表示为n);

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2024年大学专业课考试资料:半导体物理学知识点归纳

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C、Ep=-En

D、mp*=-mn*o

41-、解:

(1)Ge、Si:

a)Eg(Si:0K)=1.21eV;Eg(Ge:0K)=1.170eV;

b)间接能隙结构c)禁带宽度Eg随温度增加而减小;

(2)GaAs:

a)Eg(300K)=1.428eV,Eg(OK)=1.522eV;

b)直接能隙结构;

c)Eg负温度系数特性:dEg/dT=-3.95X104eV/K;

1・5、解:

(1)由题意得:

——=0.\aEQ

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