集成电路可靠性之谜-深度解析与未来展望.pptx

集成电路可靠性之谜

深度解析与未来展望

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Agenda

介绍

常见的可靠性问题

可靠性分析评估

先进的可靠性分析方法

加强合作与交流

核心观点

01.介绍

可靠性分析的基本原理和方法

演讲人介绍

研究科学家介绍

演讲目的-演讲目的

研讨会背景

02.常见的可靠性问题

解决集成电路设计中的问题

电压波动问题

温度变化：隐患分析

电磁干扰的影响

电磁干扰问题

03.可靠性分析评估

集成电路设计的挑战与应对

集成电路设计的挑战

可靠性分析的关键性

评估标准的重要性

04.先进的可靠性分析方法

可靠性分析方法

故障树：深入剖析

可靠性预测：精准模型

退化分析：性能衰退

05.加强合作与交流

促进学术交流与合作

学界合作交流

产业界的合作与交流

可靠性分析与评估

06.核心观点

提高产品可靠性与降低故障率

可靠性分析的重要性

应用领域的拓展：新的机遇

未来发展趋势

Thankyou

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