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2025年电子科技大学832微电子器件考研历年真题及解析.docx

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考试科目:832微电子器件

一、填空題(共45分,每空1.5分)

1、根据输运方程,载流子的(扩散)电流重要与载流子浓度梯度有关,而(漂移)电流重要与载流子浓度有关。

2、俄歇复合的逆过程是(碰撞电离)。

3、当PN結反偏時候,反向电流由(少子)扩散电流和势垒区(产生)电流构成。

4、在二极管的反向恢复过程中,中性区存储的非少子浓度减少有两个原因,一是(载流子复合),二是(反向电流抽取)。

5、薄基区二极管是指P区和N区中至少有一种区的長度远不不小于该区的(少子扩散長度)。在其他条件相似的状况下,薄基区二极管的中性区宽度越(小),扩散电流越大。

6、(热击穿)又称為二次击穿,这种击穿一般

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