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基于深度学习的电子封装缺陷识别优化研究论文

摘要：

随着电子封装技术的不断发展，电子产品的性能和可靠性日益提高。然而，电子封装过程中产生的缺陷仍然是制约产品质量和性能的关键因素。深度学习作为一种新兴的人工智能技术，在图像识别领域展现出巨大的潜力。本文针对电子封装缺陷识别问题，提出了一种基于深度学习的优化识别方法，旨在提高缺陷检测的准确性和效率。通过分析现有电子封装缺陷识别技术的不足，探讨了深度学习在缺陷识别中的应用，并对优化策略进行了详细阐述。

关键词：电子封装；缺陷识别；深度学习；优化；图像识别

一、引言

（一）电子封装缺陷识别的重要性

1.内容一：提高产品质量

1.1电子封装缺陷可能导