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2025-04-08 发布于黑龙江
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基于机器学习的集成电路测试优化论文

摘要：

随着集成电路（IC）技术的飞速发展，其复杂性和集成度不断提高，传统的集成电路测试方法已经难以满足日益增长的需求。机器学习作为一种新兴的技术，在集成电路测试领域展现出巨大的潜力。本文旨在探讨如何利用机器学习优化集成电路测试过程，提高测试效率和准确性。通过分析机器学习在集成电路测试中的应用现状，提出了一种基于机器学习的集成电路测试优化方法，并对该方法的有效性进行了验证。

关键词：机器学习；集成电路测试；优化；测试效率；准确性

一、引言

（一）机器学习在集成电路测试中的应用背景

1.内容一：集成电路测试的挑战

1.1集成电路复杂度的提高，导致测试难度加