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ApplicationNote

级联一致性和移相器校准应用手册

摘要

多个AWR2243雷达器件可以级联在一起来实现更大的天线阵列传感器。在此类系统中，负责控制和校准各器件

中模拟部分的固件例程必须协同工作，以确保具有良好的角度精度性能。本应用手册提供了一些建议来帮助改进

级联系统在时间、温度及其天线范围内的一致性，并说明了如何利用传感器上的主机处理器来更好地控制AWR器

件。建议的程序还可用于需要雷达返回信号的绝对相位在雷达帧范围内保持稳定而没有突变的高级单芯片应用。

本应用手册还提供了关于TX移相器校准的建议，这些建议适用于单芯片以及级联使用，并且与AWR1843和

AWR2243相关。

内容

1引言3

1.1背景–简单的单芯片应用3

2级联不一致性来源及缓解策略4

2.1PCB布线不平衡与器件工艺4

2.2温度漂移4

2.3安排运行时校准4

3实现级联一致性和改进的相位性能5

3.1简要总结5

3.2保存客户工厂的RFINIT校准结果5

3.3客户工厂处基于角反射器的失调测量7

3.4现场恢复工厂校准结果10

3.5基于主机的现场温度校准11

4概念展示18

5其他（干扰、增益变化、采样抖动）20

5.1处理现场干扰20

5.2关于TX功率和RX增益漂移与温度间关系的信息20

5.3线性调频脉冲开始与ADC采样开始之间的抖动21

6结论22

A附录23

A.1术语23

A.2参考文献23

A.3级联一致性拟议方案的流程图23

A.4用于降低TX移相器温漂的LUT29

A.5TX移相器校准数据保存和恢复API的循环移位34

插图清单

图3-1.25°C时AWR2243标称器件信息的移相器INL图：(a)使用内部RFINIT移相器校准时(b)使用基于外部波导环

回的测量值时7

图3-2.AWR2243运行时校准温度指数强制时序图12

图3-3.AWR1843的TX相移误差温度校正114

图3-4.AWR2243的TX相移误差温度校正114

图3-5.AWR2243中的TX移相器精度1,215

图3-6.校准过程中测得的原始PSINL，以及对校准测量期间相位变化温漂的线性补偿图示16

图3-7.25°C时不同移相器设置下的振幅变化116

图4-1.在器件中执行独立自主周期性运行时校准时的绝对相位变化18

图4-2.外部触发校准更新时的绝对相位变化119

图4-3.外部触发校准更新时的绝对相位变化119

ZHCAB61–NOVEMBER2020级联一致性和移相器校准应用手册1

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