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基于结构光和叶绿素荧光的植株光合表型成像系统研究.pdf

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    摘要

    在植物科学领域，了解植株表型和光合效率一直是重要课题。这些信息对于培育

    抗逆、优良的作物品种以及提高作物的产量和资源利用效率至关重要。光合效率在此

    过程中扮演着关键角色，直接影响植株的生长和产量。为了全面了解植株的光合效率，

    传统的生长参数和叶绿素荧光等多个参数都需要考虑在内。然而，传统的人工检测方

    法存在着耗时、费力、精度低等问题，而机器视觉等无损检测技术则具有更高的效率

    和精度。近年来，基于多光谱、高光谱的新型植株表型探测技术与设备快速发展，如

    Plant-Explorer-XS、F

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