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Zeta电位样品池：Omega样品池vsU形样品池

关键词：电泳光散射，zeta电位，Omega样品池

图1：Omega样品池(左)和U形样品池

这一直线段使测量管道处形成均匀的电场；即它避免了

电场强度梯度的积累。因此，使用安东帕的Omega样

品池进行的测量与样品池毛细管横截面上的测量位置无

关，并且具有高度的稳定性和可重复性。

在本应用报告中，对Omega样品池与普通U形样品池

1简介的性能进行了比较。分别对两个样品池(图2)中的几个

位置测量了Zeta电位，样品为稀释的二氧化硅分散体

Zeta电位是评价胶体稳定性的重要指标。当胶体zeta，并对结果进行了比较。

电位较高(高正或高负)时，胶体颗粒会相互排斥，因此

团聚的几率较低。另一方面，zeta电位较低时，粒子

间的排斥力较低，从而可能导致样品团聚。因此，Zeta

电位是表征胶体分散体在不同行业（如生物医学技术、

聚合物、造纸、涂料和制药）的制备、储存和分解的一

个重要指标。

利用电泳光散射(ELS)可以方便地测定Zeta电位，通

过测量电泳迁移率，进而计算得到Zeta电位。样品充

满包含毛细管通道的样品池。当在通道两端施加电压时

，粒子会向相反的电荷电极移动。激光束发生色散，然图2：样品池中毛细管的测量位置

后分散的粒子接触到色散光后发生散射。散射光的频率

与粒子的运动速度成正比，因此电泳迁移率可以通过多2实验方案

普勒频移得到。通过使用Smoluchowski或者Huckel

近似计算，可以从电泳迁移率计算出zeta电位。即使

2.1模拟

是复杂的样品，也能实现ELS的自动化测量，并且结

果具有高重复性。为了预测两个样品池的Zeta电位的结果，我们通过模

拟样品池内的电场，预测Zeta电位如何随两个样品池

尽管如此，有一个问题是，Zeta电位通常是在样品池

内测量位置的变化而变化，两个样品池都沿着相同的轨

上稍微弯曲的地方测量的，这可能导致电场强度的梯度

迹进行测试，如图2所示，通过使用ANSYSMaxwell

变化。这样的梯度变化意味着测量的zeta电位非常依

赖样品池内的测量位置。(15.0.0版)软件包，由一个精确的有限元方法来模拟3

d结构。

为了解决这个问题，我们设计了一个新的Zeta电位样

品池，样品的毛细管部分不是U形的，而是倒omega(/Products/Electronics/ANSYS-

（Ω）形的（见图1）。与传统的U形管（图1，右）Maxwell)

相比，omega样品池在管的底部有一段很长的直线。

2.2测量

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