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突破极限：荧光辐射差分超分辨显微方法与系统的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

在科学研究与技术发展的进程中，对微观世界的深入探索始终是推动众多学科进步的关键驱动力。光学显微镜作为观测微观结构的重要工具，自诞生以来，不断革新，为人类打开了微观世界的大门。然而，传统光学显微镜受到阿贝衍射极限的制约，空间分辨率一般大于λ/2，这在很大程度上限制了人们对更微小结构和细节的观察，难以满足现代科学研究对微观观测日益增长的高精度需求。

为突破这一限制，近几十年来，结构光照明显微技术、随机光学重构显微技术、受激辐射损耗显微技术等超分辨技术不断涌现。其中，荧光辐射差分（Fluorescence