T_CSTM 00990-2023 毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测试方法 准光腔法.docx

ICS31.180CCSL30

团体标准

T/CSTM00990—2023

毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测

试方法准光腔法

Testmethodfordielectricconstantanddielectriclosstangentinmillimeterwave

frequencyrange—Quasi-opticalcavitymethod

2023-04-07发布2023-07-07实施

中关村材料试验技术联盟发布

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目次

前言 2

引言 3

1范围 4

2规范性引用文件 4

3术语和定义 4

4符号和缩略语 4

5原理 5

6环境条件 5

7仪器设备 5

8样品要求 6

9测试步骤 6

9.1样品预处理 6

9.2仪器准备 6

9.3样品尺寸测量 6

9.4常温测试 6

9.5高温测试 6

9.6低温测试 7

10计算 7

10.1介电常数温度系数 7

10.2介质损耗角正切温度系数 7

11系统误差 8

12注意事项 8

13试验报告 8

附录A（资料性）介电常数和介质损耗角正切测试原理 9

附录B（资料性）测试系统连接框图 12

附录C（资料性）起草单位和主要起草人 13

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前言

本文件参照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》，GB/T20001.4—2015《标准编写规则第4部分：试验方法标准》的规定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会（CSTM/FC51）提出。

本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会（CSTM/FC51）归口。

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引言

介电常数和介质损耗角正切影响着高速高频电路的关键性能，尤其是在毫米波频段上。因此，非常有必要建立准确测量毫米波频段介质基板介电常数和介质损耗角正切的标准方法。本文件采用准光腔法进行测试，规定25GHz~110GHz宽带范围内的介电常数和介质损耗角正切以及介电常数温度系数和损耗因子温度系数的测试方法。基于GB/T9534-88改进优化的内容：

a）根据发展需求，增加复介电常数的温漂测试（TCDk、TCDf）（-65℃~125℃)规定，补充国家标准的空白；

b）细化了测试步骤，提高测试的一致性和可重复性；

c）描述了在试验过程中影响试验结果的注意事项。

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毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测试方法准光腔测试法

重要提示：使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本文件并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。

1范围

本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的准光腔测试方法，包括原理、环境条件、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。

本文件适用于测试片状固体材料在毫米波频段的介电常数和介质损耗角正切。

频率测试范围：f=25GHz~110GHz；

介电常数测试范围：ε=2.0~20.0；

损耗角正切值测试范围：tanδε=1.0×10一4~1.0×10一2；

温度测试范围：-65℃~125℃。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T2036印制板电路术语

3术语和定义

GB/T2036界定的术语和定义适用于本文件。

3.1

介电常数dielectricconstant

规定形状电极之间填充电介质获得的电容量与相同电极之间为真空时的电容量之比。

[来源：GB/T2036-1994，6.3.6]3.2

介质损耗角正切dielectricdissipationfactor

对电介质施加正弦波电压时，通过介质的电流相量